利用可能装置一覧

 Ｘ線分析

装置種	装置種	装置名	依頼分析	セルフ利用
XRD(粉末)	粉末Ｘ線回折計	X'Pert-MPD-OES	○	○
XRD(薄膜)	薄膜材料結晶性解析用Ｘ線回折装置	X'Pert-Pro-MRD	○	○
XRD(微小部)	微小部Ｘ線回折装置	D8 DISCOVER μHR	○	○
XRD(粉末)	卓上Ｘ線回折計	Mini Flex 600	○	○
XRF	エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置	NEX DE	○	○

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 元素分析・分光分析

装置種	装置種	装置名	依頼分析	セルフ利用
ICP-OES	ICP発光分析装置	5100 VDV ICP-OES	○	○
ICP-MS	ICP質量分析装置	7700x	○	○
RAMAN	レーザー顕微ラマン分光光度計	NRS-4100	○	○
Auger	電界放射型電子銃オージェ分光装置	JAMP-9500F	○	○
EPMA	電子プローブマイクロアナライザー	JXA-8200	○	○
TOF-SIMS	飛行時間型二次イオン質量分析装置	TOF-SIMS 5-100-AD	○	×
SALD	レーザ回折式粒子径分布測定装置	SALD-2300	○	○

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 電子顕微鏡・試料作製

装置種	装置種	装置名	依頼分析	セルフ利用
FE-TEM	電界放射型透過型電子顕微鏡　200kV	JEM-2010F	○	×
FE-TEM	電界放射型球面電子収差補正電子顕微鏡	R005	○	×
TEM	透過型電子顕微鏡　120kV	H-7650 Zero.A	○	○
FE-SEM	電界放射型走査電子顕微鏡	SU9000	○	×
FE-SEM	電界放射型走査電子顕微鏡	S4700	○	×
FE-SEM	電界放射型走査電子顕微鏡	JSM-7500F	○	○
FIB	集束イオンビーム試料加工装置	FB-2100	○	×
UMT・UCT	ウルトラミクロトーム ウルトラクライオトーム	UMT-UCT UMT-UC7	○	○
CP	クロスセクションポリッシャー	SM-09010CP SM-09020CP	○	○
CCP	冷却クロスセクションポリッシャー	IB-19520CCP	○	×
試料作製	低角度イオンポリッシングシステム	Model 691	ご利用については お問い合わせ より ご相談ください
	超音波ディスクカッター	Model 601
	ディンプルグラインダー	Model 656
	真空蒸着装置	JEE-420T
	マグネトロンスパッタコーター	E-1030
	カーボンコーター	VC-100W
	凍結試料作製装置	JFD-9010

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