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お知らせ

■2023年11月8日　利用料金表改定

利用料金表改定のおしらせ

※変更項目：EPMA JXA-8530F、セルフ利用料金追加
　本改定は10月23日利用分より適用されます。
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2023年9月1日　利用料金表改定

利用料金表改定のおしらせ

※変更項目：FE-TEM R005、課金単価変更
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2023年8月3日　休業日のおしらせ

大岡山地区全域停電、および本学一斉休業のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　停　　電：8月12日（土）、13日（日）
　　一斉休業：8月14日（月）、15日（火）

よろしくお願いいたします。

■2023年8月2日　FE-SEM装置 受付停止のおしらせ

【追加 2023年10月11日】
SEM室空調の工事が完了しSEM装置が復帰しました。本日よりS4700、JSM-7500Fの利用受付を再開いたします。SU9000は来週より受付を再開いたします。

【追加 2023年10月2日】
SEM室空調の工事について、10月6日実施の予定となりました。
空調の復旧後、再起動および動作確認がとれた装置より順次利用受付を再開いたします。

【追加 2023年9月19日】
装置設置室空調設備故障のため停止していますFE-SEM装置（SU9000、S4700、JSM-7500F）に関しまして。再開時期は10月下旬を見込んでおります。

依頼分析については、分析部門（すずかけ台）の装置を利用して行えるものもありますのでご相談ください。

セルフ利用については、学内で利用可能な設備として物質科学分析機器共用システムPAIMSで管理しているFE-SEM S-5500をご案内しております。分析部門とは管理が異なりますので、下記ページ記載の担当の方と観察についての相談および講習受講をしてください。

東京工業大学共用機器予約システム　https://tokyotech-pai.jp/portals/machine_detail/15

【2023年8月2日】
装置設置室空調設備故障のため、FE-SEM装置（SU9000、S4700、JSM-7500F）を停止しています。再開時期は未定です。

ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2023年4月28日　利用料金表改定

利用料金が改定となりました。
詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2023年3月16日　SPM-9600 サービス終了のおしらせ

SPM-9600につきましては、オフラインで使っておりました機器も現有機器に対応できないため、2022年度末でサービスを終了いたします。

これまでご利用いただきありがとうございました。

■2023年3月8日　SEM VE9800　利用停止のおしらせ

【追加 2023年3月10日】
SEM VE9800ついて、装置故障により受付を停止しておりましたが、修理不可のため当部門でのサービスを終了いたします。

ご利用を予定されていた皆様におかれましてはご不便をお詫び申し上げます。また、これまでご利用くださいましたこと感謝申し上げます。

装置故障によりVE9800による分析サービス、セルフユーザー利用受付を停止します。サービスの再開は未定です。

ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2023年2月15日　FE-SEM S-4700　利用停止のおしらせ

【追加 2023年6月9日】
装置故障について修理が完了しましたので、利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置故障によりS-4700による観察、EDS分析サービスを停止します。復旧は未定です。

ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2023年2月3日　利用料金表改定のお知らせ

利用料金表改定のおしらせ

※変更項目：NEX DE、課金単位時間・単価変更
　本改訂は2月1日利用分より適用されます。
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2022年12月16日　分析部門休業日のお知らせ

下記期日は部門の業務を休止します。

　　2022年12月28日（水）

ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年10月19日　EPMA 利用停止のお知らせ

【追加 2022年10月24日】
EPMA　JXA-8100は10月19日に発生した装置トラブルから10月21日付で復旧しました。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のため、EPMAの利用受付を一時停止いたします。
ステージに異常が発生しており、メーカーによる確認と修理を進めています。
装置復旧後、改めて情報共有させていただきます。

ご不便おかけすることをお詫び申し上げます。

■2022年10月18日　D8 DISCOVER 利用停止のお知らせ

【追加 2023年3月2日】
装置不具合について修理が完了しましたので、利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のため、D8 DISCOVERの利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年10月7日　TOF-SIMS 利用停止のお知らせ

【追加 2022年11月7日】
トラブルについて修理が完了しましたので、依頼申し込みを再開いたします。
よろしくお願いいたします。

TOF-SIMSは装置故障のため、依頼受け付けを一時停止します。
度重なるトラブルのためご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2022年8月19日　ICP-MS 利用停止のお知らせ

【追加 2022年11月15日】
装置不具合について修理が完了しましたので、利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のためICP-MSの利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年8月5日　Raman分光光度計NRS-4100 サービス停止のお知らせ

【追加 2022年10月7日】
Raman装置のアップグレードが完了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

Raman分光光度計NRS-4100の引き取りアップグレードに伴い、8月22日より1か月半の期間サービス停止となります。
サービス再開は10月3日の週を予定しています。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年8月1日　NEX DE 利用停止のお知らせ

【追加 2023年3月22日】
NEX DE が復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のためNEX DEの利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年7月26日　TEM JEM-1010BS サービス終了

JEM-1010BSは装置老朽化のため、当部門での運用および分析サービスを終了いたします。

これまでのご利用ありがとうございました。

■2022年7月11日　ICP-OES 利用停止のお知らせ

【追加 2022年8月19日】
ICP-OESが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のためICP-OESの利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年5月18日　利用料金表改定のお知らせ

利用料金表が改定となりました。

※変更項目：FE-SEM、TEMセルフ利用　課金単位時間・単価変更
　本改訂は5月2日利用分より適用されます。
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2022年4月21日　分析部門休業日のお知らせ

下記期日は部門の業務を休止します。

　　2022年5月2日（月）、5月6日（金）

ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年4月1日　利用料金表改定のお知らせ

利用料金表が改定となりました。

※変更項目：各種分析料金の改定
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

 2021年度

■2022年3月7日　微小部X線回折装置 D8 DISCOVER μHR 利用停止のお知らせ

【追加 2022年4月8日】
微小部X線回折装置 D8 DISCOVER μHR が復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のため微小部X線回折装置の利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年3月3日　ICP-MS 利用停止のお知らせ

【追加 2022年5月18日】
ICP-MSが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

装置不具合のためICP-MSの利用受付を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2022年1月20日　JSM-7500F 利用停止（2/9（水）～ 2/18（金））

標記の期間、装置メンテナンスのためセルフユーザー利用を停止いたします。
ご不便をおかけいたしますがよろしくお願いいたします。

■2021年10月18日　Ｘ線回折装置 X'Pert-Pro-MRD 利用停止のお知らせ

【追加 2021年11月10日】
X'Pert-Pro-MRDが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

X'Pert-Pro-MRDは装置不具合のため、利用受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置が復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2021年9月15日　OFC分析部門 休業日のお知らせ

2021年9月24日(金)は分析部門の業務を休止します。
ご利用を検討されている方にはご不便をおかけしますが、よろしくお願いいたします。

■2021年7月19日　OFC分析部門 夏季休業期間について

本学一斉休業、および大岡山地区全域停電とそれに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　一斉休業：2021年8月12日（木）、13日（金）
　　停　　電：2021年8月14日（土）、15日（日）

停電明けからの各装置の復旧状況については適宜この欄でお知らせします。

■2021年4月16日　OFC分析部門 休業日のお知らせ

2021年4月30日(金)は分析部門の業務を休止します。
ご利用を検討されている方にはご不便をおかけしますが、よろしくお願いいたします。

■2021年4月1日　TEM、FE-SEM セルフユーザー新規利用再開

TEM H-7650, FE-SEM JSM-7500F について、新規利用を再開いたします。

これらの装置は今年度から講習を行わず、すぐにご自身の試料を観察いただけるようにいたしました（初めのうちは職員がサポートいたします）。

「TEM、FE-SEM 新規利用申込書 」にご記入の上、soudan@cama.（titech.ac.jp）宛に送信してください。

→ セルフユーザー講習ページ

■2021年4月1日　利用料金表改定のお知らせ

利用料金表が改定となりました。

※変更項目：各種分析料金の改定
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

 2020年度

■2021年1月21日　ICP-MS 7700x 利用停止のお知らせ

【追加 2021年3月11日】
ICP-MSが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

ICP-MSは装置不具合のため、利用受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2021年1月12日　コロナウイルス感染症対応レベル 2.5－ ver.2 における業務状況

本学コロナウイルス感染症対応レベル引き上げにともない、当部門の業務状況を以下のように変更します。

○依頼分析
　受け付けております。
　感染症拡大防止の観点から、原則立ち合い観察は中止としております。

○講習
　受付を停止します。
　対応がレベル２に下がるまでセルフユーザー講習は停止します。
　対応レベル引き上げ前に予約済のセルフユーザー講習についても中止とさせていただきます。

○セルフユーザー利用
　利用可能です。
　稼働中の装置は通常通り運用しております。
　各装置の予約状況はセルフ利用装置予約システムよりご確認ください。

■2020年12月18日　OFC分析部門 休業日のお知らせ

2020年12月28日(月)は分析部門の業務を休止します。
ご利用を検討されている方にはご不便をおかけしますが、よろしくお願いいたします。

■2020年12月7日　一部装置のセルフユーザー講習の一時停止について

FE-SEM JSM-7500F、TEM H-7650について、今年度のセルフユーザー講習受付を停止します。

現在繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。ご利用を検討されている方には大変なご不便をおかけしますが、ご理解下さいますようよろしくお願い申し上げます。

■2020年11月16日　各種申込書の押印を不要としました

分析部門では、業務手続きの簡素化を進める学内方針のもと、各種申込書の押印を不要とすることにしました。

各種お申し込みの際には、本件に対応しております新たな申込書をご使用ください。

■2020年11月10日　ラマン分光光度計 NRS-4100の利用停止のお知らせ

【追加 2020年12月18日】
ラマン分光光度計が復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
よろしくお願いいたします。

ラマン分光光度計は装置不具合のため、利用受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2020年11月6日　コロナウイルス感染症対策下における業務制限状況

本学コロナウイルス感染症対策に基づき、当部門では以下の制限のもと業務を行っております。

○依頼分析
　受け付けております。
　感染症拡大防止の観点から、原則立ち合い観察は中止としております。

○講習
　受け付けております。
　感染症拡大防止の観点から、1回の講習における実施人数を1人としております。

○セルフユーザー利用
　利用可能です。
　稼働中の装置は通常通り運用しております。
　各装置の予約状況はセルフ利用装置予約システムよりご確認ください。

■2020年8月7日　OFC分析部門 夏季休業期間について

大岡山地区全域停電と、それに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　2020年8月11日(火) から 8月14日(金)

停電明けからの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせしますのでご注意ください。
セルフ装置の予約システムは、8月10日(金) 17時 ～ 8月17日(月) 10時 の期間停止します。

部門業務再開予定：8月17日(月)

 2019年度

■2020年2月7日　大岡山分析部門　休業日のお知らせ

本学入学試験、および部門内設備の整備等のため、下記の期間について当部門の業務を休止いたします。

・2月12日、13日、14日
・2月25日、26日
・3月11日

ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

■2019年12月3日　ラマン分光光度計 NRS-4100の利用停止のお知らせ

【追加 2019年12月18日】
ラマン分光光度計が復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

ラマン分光光度計は装置不具合のため、依頼受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

なお、大岡山分析部門以外にも設備共用システムがございます。
設備共用ウェブサイト上の下記装置利用についても併せてご検討ください。

https://kyoyo.rpd.titech.ac.jp/search/data/public/detail/100000001753.html https://kyoyo.rpd.titech.ac.jp/search/data/public/detail/100000001095.html

■2019年11月11日　FE-SEM JSM-7500F セルフユーザー講習の一時停止について

【追加 2020年3月10日】
昨年より講習を停止していたFE-SEM JSM-7500Fについて、3月11日より受付を再開します。
ご利用を検討されていた皆様にはご不便をおかけいたしました。よろしくお願いいたします。

FE-SEM JSM-7500Fについて、今年度のセルフユーザー講習受付を11月30日で停止します。

現在繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。ご利用を検討されている方には大変なご不便をおかけしますが、ご理解下さいますようよろしくお願い申し上げます。

受付再開は2020年3月以降を見込んでおります。

■2019年11月5日　TOF-SIMSの利用停止のお知らせ

【追加 2019年12月27日】
TOF-SIMSの利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

TOF-SIMSは装置故障のため、依頼受け付けを一時停止します。
度重なるトラブルのためご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2019年9月24日　FE-TEM JEM-2010Fの利用停止のお知らせ

【追加 2019年10月1日】
JEM-2010Fが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

FE-TEM JEM-2010Fは装置故障のため、依頼受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2019年8月9日　利用料金表改定のお知らせ

分析料金表が改定となりました。

※変更項目：電子顕微鏡　依頼分析　FE-TEM　EDS線分析を追加
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2019年8月2日　TOF-SIMSの利用停止のお知らせ

【追加 2019年10月7日】
TOF-SIMSの修理が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

TOF-SIMSは装置故障のため、依頼受け付けを一時停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の復旧次第、受付を再開いたしますので今しばらくお待ちください。

■2019年7月30日　大岡山分析部門における外部資金の利用月の延長について

今年度より技術部大岡山分析部門の試みとして、外部予算での利用期間と年度内執行について従来より延長して対応することとなりました。

詳細は以下よりご確認ください。

→ 大岡山分析部門における外部資金の利用月の延長について（学内限定）

■2019年6月27日　X'Pert-Pro-MRD 利用停止のお知らせ

【追加 2019年7月9日】
MRDのメンテナンスが終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

X'Pert-Pro-MRDは装置メンテナンスにより、利用停止といたします。

ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
利用受付再開時には、ウェブページで連絡いたします。

■2019年6月26日　ウルトラミクロトーム 利用停止のお知らせ

【追記 2019年6月27日 18:30】
ウルトラミクロトームが復旧しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

ウルトラミクロトームは装置故障のため、使用停止とします。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

装置の状況について動きがありましたらウェブページで連絡いたします。

■2019年6月17日　大岡山分析部門 夏季休業期間について

大岡山地区全域停電と、それに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　2018年8月13日(火) から 8月16日(金)

停電明けからの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせしますのでご注意ください。
セルフ装置の予約システムは、8月9日(金) 17時 ～ 8月15日(木) 10時 の期間停止します。

部門業務再開予定：8月19日(月)

■2019年5月16日　利用料金表改定のお知らせ

分析料金表が改定となりました。

※変更項目：電子顕微鏡　講習・セルフ利用　FE-SEM試料台の料金を明示
　詳細は「利用料金」より書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2019年4月1日　2019年度予算登録　受付開始のお知らせ

平素より大岡山分析部門のご利用ありがとうございます。
当部門利用費のお支払につきまして、本年度用のご登録の受け付けを開始いたします。

ホームページのTopics欄より2019年度用の予算登録票をダウンロードし、必要事項をご入力のうえ当部門課金担当宛メールアドレス「 kakin@cama.（titech.ac.jp） ※()は外してください」にeメールにてご送付ください。

予算登録表作成の際は物品請求システムご確認いただき、物品請求システムの表記の通り正確にご入力をお願いいたします。また、予算の登録申請は必ず予算詳細責任者本人からご送付くださいますようお願いいたします。

予算のご登録、使用可能な財源、振替時期等については以下をご一読ください

→ 本年度初めてご利用される方へ（学内限定）

■2019年4月1日　利用料金表改定のお知らせ

2019年4月より装置導入に伴い分析料金表が改定となりました。
詳細は「利用料金」より必要な書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

 2018年度

■2019年3月11日　CP利用停止のお知らせ

【追加 2019年3月19日】
CPのメンテナンスが終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

クロスセクションポリッシャ(CPmk2)は機器メンテナンスの為、当面の間使用停止とします。
再開は未定です。ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

利用受付再開時には、ウェブページで連絡いたします。

■2019年2月25日　ICP-OES 利用停止のお知らせ

【追加 2019年3月11日】
ICP-OESのソフトウェア更新が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

ICP-OESは、ソフトウェア更新作業のため3/1(金)から利用受付を一時停止いたします。
ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

利用受付再開時には、ウェブページで連絡いたします。

■2019年1月22日　D8 DISCOVER 利用停止のお知らせ

【追加 2019年4月3日】
D8 DISCOVERの修理が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
長期間にわたり、ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

D8 DISCOVERは12月に発生しました装置トラブルにより、利用を停止しております。

ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、ご理解のほど、よろしくお願いいたします。
利用受付再開時には、ウェブページで連絡いたします。

■2018年11月14日　大岡山分析部門 年末年始休業について

大岡山分析部門は下記年末年始期間に部門の業務を休止します。
新年は2019年1月7日(月)よりサービスの再開をいたします。

　休業期間：2018年12月28日(金) から 2019年1月6日(日)

■2018年11月1日　FE-SEM JSM-7500F セルフユーザー講習の一時停止について

昨年より講習を停止していたFE-SEM JSM-7500Fについて4月より講習を再開します。
ご利用を検討されていた皆様にはご不便をおかけいたしました。

なお、お申し込みについては新年度の予算シールを取得されてからお願いいたします。

FE-SEM JSM-7500Fについて、今年度のセルフユーザー講習受付を11月30日で停止します。

現在繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。ご利用を検討されている方には大変なご不便をおかけしますが、ご理解下さいますようよろしくお願い申し上げます。

なるべく早期の再開を目指しますが、例年の傾向から2019年3月以降を見込んでおります。

■2018年11月1日　全学防災訓練時における部門利用について

2018年11月14日（水）に実施される全学の防災訓練において当日部門を利用している利用者には防災訓練開始時刻までに各所属に戻っていただくことになります。また、使用時間等に制限がかかる設備もあります。当日の利用にあたっては担当者の指示に従ってください。

利用者の皆様にはご不便をおかけしますがご協力よろしくお願いいたします。

■2018年10月4日　ICP-OES 利用一時停止のお知らせ

【追加 2018年11月1日】
ICP-OESのメンテナンスが終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

ICP-OESは、装置トラブルのため利用受付を一時停止いたします。

ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
利用受付再開時には、ウェブページでご連絡します。

■2018年7月27日　電話機更新工事による電話不通のお知らせ

2018年7月31日（火）に大岡山分析部門内の電話機の更新工事が行われます。
当日は工事終了まで大岡山分析部門への電話は不通となります。

ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

■2018年7月2日　利用料金表改定のお知らせ

2018年7月より装置導入に伴い分析料金表が改定となりました。
詳細は「利用料金」より必要な書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2018年7月2日　エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置　NEX DE　運用開始について

この度新たにエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置を導入いたしました。

装置名：エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置　NEX DE（リガク）

装置の仕様については以下よりご確認ください。

→装置情報：エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置　NEX DE

■2018年6月12日　ICP基礎講習会 開催のお知らせ

平素より大岡山分析部門をご利用いただき、ありがとうございます。

この度大岡山分析部門では、本学でICP測定に従事される方を対象に、講師の方をお呼びして「ICP基礎講習会」を開催する運びとなりましたので、ここにご案内申し上げます。

午前は、ゼロから始めたい方のために、水や試薬、器具などの取り扱い注意点を含めた試料調整の基礎の基礎から解説します。
午後は、既に使用されている方を対象に、具体的な試料調整方法と装置（主にICP-OES)の原理と構成、測定条件の最適化、干渉とその対策などについて解説します。

受講料：午前の部 2,000円　午後の部 3,000円　（1日の場合は5,000円になります）
※ 受講料の支払いは、当部門利用時と同様に予算シールからのみの振替となります。

1.　日　　時：2018年８月９日（木） 午前 9:30〜12:00（受付開始 9:15〜）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　午後 13:00〜17:00（受付開始 12:45〜）

2.　内　　容：午前の部　試料調整の基礎の基礎
　　　　　　　午後の部　試料調整、装置の使用方法の基礎

3.　場　　所：人数に応じて変更がございます。
　　　　　　　決定いたしましたら申し込まれた方にご連絡致します。

4.　対　　象：本学の研究室に所属している学生、研究員、教職員

5.　定　　員：午前、午後共に30名程度

6.　申込方法：ご希望の方は申込内容を記載のうえ、件名に【ICP基礎講習会参加希望】と
　　　　　　　表記してE-mail にてお申し込み下さい。
　　　　　　　（当日申込みはできませんので、ご注意下さい。）
　　　　　　　・申込の記載事項
　　　　　　　　　○氏名：
　　　　　　　　　○所属（学院・系・研究所・センター、研究室）：
　　　　　　　　　○身分・学年：
　　　　　　　　　○E-mailアドレス：
　　　　　　　　　○内線番号：
　　　　　　　　　○受講希望：午前の部 / 午後の部 / 1日　（いずれかご記入下さい。）
　　　　　　　
　　　　　　　・申込締切：7月27日（金）
　　　　　　　・申込先　：ohtsuka.y.ab@m.(titech.ac.jp) *( ) は外してください（大塚宛）

　　　　　　　※申し込まれて5日以内に返事が無い場合、申し訳ございませんがご連絡下さい。

お問合せ先
　連絡先： 技術部　大岡山分析部門　大塚
　E-mail：ohtsuka.y.ab@m.(titech.ac.jp) *( ) は外してください
　電　話：内線 7225

■2018年6月4日　大岡山分析部門 夏季休業期間について

大岡山地区全域停電と、それに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　2018年8月10日(金) から 8月17日(金)

停電明けからの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせしますのでご注意ください。
セルフ装置の予約システムは、8月10日(金) 17時 ～ 8月15日(水) 10時 の期間停止します。

部門業務再開予定：8月20日(月)

■2018年5月14日　XRF基礎講習会 開催のお知らせ

【追加 2018年6月1日】
講習会のプログラムが決まりました。詳細は下記案内のpdfファイルをご覧ください

平素より技術部 大岡山分析部門をご利用いただき、ありがとうございます。

当部門では7月からエネルギー分散型蛍光X線分析 (XRF) 装置 (リガク製 NEX DE) の利用開放を予定しています。利用開始に先立ち、XRF装置でわかることや測定上、解析上の注意点などをメーカーの方に解説してもらう基礎講習会を開催いたします。

今後のご利用を予定されている方やご興味のある方は、是非この機会をご活用ください。参加費用は無料です。

1.　日　　時：2018年6月7日（木）13:30 ～ 17:00（受付開始 13:15 ～）
　　　　　　　プログラム：XRF講習会プログラム.pdf

2.　場　　所：大岡山 南7号館 315号室 大岡山分析部門　研修室（座学）
　　　　　　　大岡山 南7号館 311号室 大岡山分析部門　X線分析室（実習）

3.　対　　象：研究室に所属している学生、教職員

4.　定　　員：10名程度（座学のみの受講も可能です）

5.　申込方法：ご希望の方は以下の申込事項を確認のうえ、件名に【XRFセミナー参加希望】と
　　　　　　　表記してe-mailにてご連絡ください。
　　　　　　　・申込の記載事項
　　　　　　　　　○ご氏名：
　　　　　　　　　○ご所属（学院・系・研究所・センター、研究室）：
　　　　　　　　　○e-mailアドレス：
　　　　　　　　　○内線番号：
　　　　　　　　　○ご希望内容：・座学と実習　・座学のみ
　　　　　　　　　　　　　　　　（どちらかをご選択ください）
　　　　　　　・申込締切：5月31日（水）
　　　　　　　・申込先 : xray@cama (.titech.ac.jp) *( ) は外してください

6.　その他　：今後、装置利用をご希望の際は、セミナーとは別にセルフ講習の受講が必要です。

お問合せ先
　e-mail：xray@cama.(titech.ac.jp) *( ) は外してください
　内　線：3647

■2018年4月11日　オスミウムプラズマコーター整備のお知らせ

【追加 2018年5月7日】
オスミウムプラズマコーターの整備が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

4月12日（木）より、オスミウムプラズマコーターNeocProを整備に出します。
戻るまでの期間オスミウムプラズマコーターは利用できません。ご利用を予定されている方はご注意ください。

ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
サービス再開時には、webでご連絡します。

■2018年4月2日　2018年度予算登録　受付開始のお知らせ

平素より大岡山分析部門のご利用ありがとうございます。
当部門利用費のお支払につきまして、本年度用のご登録の受け付けを開始いたします。

ホームページのTopics欄より2018年度用の予算登録票をダウンロードし、必要事項をご入力のうえ当部門課金担当宛メールアドレス「 kakin@cama.（titech.ac.jp） ※()は外してください」にeメールにてご送付ください。

予算登録表作成の際は物品請求システムご確認いただき、物品請求システムの表記の通り正確にご入力をお願いいたします。また、予算の登録申請は必ず予算詳細責任者本人からご送付くださいますようお願いいたします。

予算のご登録、使用可能な財源、振替時期等については以下をご一読ください

→ 本年度初めてご利用される方へ（学内限定）

■2018年4月2日　利用料金改定のお知らせ

2018年4月より分析料金が改定となりました。
詳細は「利用料金」より必要な書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2018年4月2日　セルフユーザー講習再開のお知らせ

昨年より講習を停止していた下記装置について4月より講習を再開します。
ご利用を検討されていた皆様にはご不便をおかけいたしました。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム

なお、お申し込みについては新年度の予算シールが発行されてからお願いいたします。

■2018年4月2日　集束イオンビーム試料加工装置　FB-2100　運用開始について

この度新たに集束イオンビーム試料加工装置を導入いたしました。

装置名：集束イオンビーム試料加工装置　FB-2100（日立ハイテク）

装置の仕様については以下よりご確認ください。

→装置情報：集束イオンビーム試料加工装置【FIB】　FB-2100

 2017年度

■2018年3月26日　ICP-OES 利用一時停止のお知らせ

【追加 2018年4月5日】
ICP-OESのメンテナンスが終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

ICP-OESは、装置メンテナンスのため利用受付を一時停止いたします。

ご利用の皆様にはご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

■2018年3月12日　オスミウムプラズマコーター修理のお知らせ

【追加 2018年3月22日】
オスミウムプラズマコーターの修理が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞよろしくお願いいたします。

3月13日（火）より、オスミウムプラズマコーターNeocProを修理に出すことになりました。
1週間程度の期間、オスミウムプラズマコーターは利用できません。ご利用を予定されている方はご注意ください。

ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
サービス再開時には、webでご連絡します。

■2018年2月5日　FT-IR サービス終了について

FT-IR　セルフユーザー各位

大岡山分析部門が所有しているFT-IR「JIR-SPX-200」は装置老朽化のため2018年2月末をもってサービスを終了することとなりました。

今までご利用ありがとうございました。

■2018年1月4日　平成29年度第4四半期(1〜3月）における、セルフユーザー利用料金の減額試行について

大岡山分析部門のサービス拡充の試みとして、平成29年度第４四半期におけるセルフユーザー利用料金を減額します。詳細につきましては下記よりご確認ください

→ 平成29年度第４四半期におけるセルフユーザー利用料金を減額します。（学内限定）

■2017年12月12日　大岡山分析部門 年末年始休業について

大岡山分析部門は下記年末年始期間に部門の業務を休止します。
新年は2017年1月4日(木)よりサービス再開をいたします。

　休業期間：2017年12月29日(金) から 2017年1月3日(水)

■2017年11月16日　第4四半期（1月、2月、3月）の利用予算について

ご利用予算のうち運営費交付金、奨学寄附金以外である外部資金の利用については、これまで通り、4月から12月末までとなっております。 1、2、3月の利用については内部収益の形をとっているため外部資金は利用できません。ご注意ください。

※現在財務部を含め利用についての議論を進めておりますが、現状では12月いっぱいまでであることをご承知おきください。

ご利用に際してはお手間をお掛けいたしますが、何卒ご理解とご協力の程、よろしくお願い申し上げます。

■2017年11月2日　FE-TEM故障による利用停止のお知らせ

【追加 2017年11月20日】
FE-TEM（JEM-2010F）の修理が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞ宜しくお願いいたします。

11月2日（木）FE-TEM（JEM-2010F）に不具合が発生したため、依頼分析を停止します。
現在、復旧に向けて修理等を検討しております。

修理が終了次第、ホームページで報告いたします。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。

■2017年10月31日　セルフユーザー講習の受付を一時停止する装置について

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2017年11月30日で受付停止します。
対象装置は以下の機種です。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム

現在繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。ご利用を検討されていた方には大変なご不便をおかけしますが、ご理解下さいますようよろしくお願い申し上げます。

なお、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2018年3月以降を見込んでおります。

■2017年10月25日　全学防災訓練時における部門利用について

2017年11月8日（水）に実施される全学の防災訓練において当日部門を利用している利用者には防災訓練開始時刻に各所属に戻っていただくことになります。また、使用時間等に制限がかかる設備もあります。当日の利用にあたっては担当者の指示に従ってください。

利用者の皆様にはご不便をおかけしますがご協力よろしくお願いいたします。

■2017年8月17日　X'Pert-Pro-MRD 故障による利用停止のお知らせ

【追加 2017年8月31日】
X'pert-pro-MRDの修理が終了しました。つきましては分析受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞ宜しくお願いいたします。

8月9日(水)、X'pert-Pro-MRDに不具合が発生したため、セルフユーザーの利用を停止します。
現在、メーカーによる修理を検討しております。

修理が終了し次第、ホームページでご報告いたします。

ご不便をおかけしますが、ご理解の程よろしくお願いいたします。

■2017年8月4日　利用料金振替業務移行のお知らせ

2017年8月1日より、技術部大岡山分析部門が行なっておりました利用料金の取りまとめ、振替連絡業務は事務局へ移行する事となりました。

詳細は以下よりご確認ください。

→ 利用料金振替業務移行のお知らせについて（学内限定）

■2017年7月20日　利用料金改定のお知らせ

2017年4月より分析料金が改定となりました。
詳細は「利用料金」より必要な書類を入手しご確認ください。

部門利用の際には最新版の料金表をご参照ください。

→ 利用料金を見る（学内限定）

■2017年7月5日　大岡山分析部門 夏季休業期間について

大岡山地区全域停電と、それに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　2017年8月14日(月) から 8月18日(金)

停電明けの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせしますのでご注意下さい。
セルフ装置の予約システムは、8月10日(木) 17時 ～ 8月16日(月) 10時 の期間停止します。

サービス再開予定：8月21日(月)

■2017年5月9日　XRDセミナー開催のお知らせ

平素より技術部 大岡山分析部門をご利用いただき、ありがとうございます。
XRDを測定されている方、今後のご利用を予定されている方やご興味のある方を対象に、薄膜測定や残留応力測定などの測定方法について、装置メーカー（PANalytical）の方によるセミナーを開催いたします。参加費用は無料です。是非、この機会をご活用ください。

1.　日　　時：2017年6月7日（水）13:20 ～ 17:00（受付開始 13:00 ～）
　　　　　　　プログラム：大岡山分析部門MRDSeminar20170607.pdf
　　　　　　（現有装置 PANalytical X’pert pro MRDの光学系での測定方法について、
　　　　　　　メーカーの方に解説していただきます。）

2.　場　　所：大岡山 南7号館 315号室 大岡山分析部門 研修室 (座学)
　　　　　　　大岡山 南7号館 311号室 大岡山分析部門 X線分析室 (実習)

3.　対　　象：研究室に所属している学生、教職員

4.　定　　員：７名程度（座学のみの受講も可能です）
　　　　　　　＊5月22日までに希望者多数の場合、研究室あたりの人数調整を 　　　　　　　　お願いすることがあります。

5.　申込方法：ご希望の方は申込内容を記載のうえ、件名に【XRDセミナー参加希望】と
　　　　　　　表記してe-mailにてご連絡ください。
　　　　　　　・申込の記載事項
　　　　　　　　　○ご氏名：
　　　　　　　　　○ご所属（学院・系・研究所・センター、研究室）：
　　　　　　　　　○e-mailアドレス：
　　　　　　　　　○内線番号：
　　　　　　　　　○ご希望内容：・座学と実習　・座学のみ
　　　　　　　　　　　　　　　　（どちらかをご選択ください）
　　　　　　　・申込締切：5月31日（水）
　　　　　　　・申込先 : xray"@"cama.titech.ac.jp ("@"は@に変更してください)

6.　その他　：本セミナー以降、装置の利用をご希望の際は、セミナーとは別にセルフ講習の
　　　　　　　受講が必要となります。

お問合せ先
　e-mail：xray"@"cama.titech.ac.jp ("@"は@に変更してください)
　内線：3647

■2017年4月24日　卓上XRD用加熱ステージの試用サンプル ご提供のお願い

　当部門では、本年3月に卓上型XRD用の加熱ステージを購入しました。現在、7月の利用開始に向けて準備をしております。本格利用に先立ち、多くの試料でのステージ確認を行いたいため、試し測定用サンプルと測定時のデータ、装置稼働履歴などの提供にご協力していただける方を募集しております。卓上型XRD 加熱ステージの試し測定にかかる測定利用料金は無料となります。

ご協力方法
　・ご協力者自らが測定
　・サンプルを提供し、部門職員が測定

募集期間
　本案内から2017年6月23日まで
　（協力者が測定される場合の測定日は6月30日まで）

対　　象
　本学の研究室に所属している学生、教職員

　ご協力いただける方はxray"@"cama.titech.ac.jp ("@"は@に変更してください) 宛てに
　件名を「XRD 加熱測定 試料協力」とし、本文に「ご氏名」、「ご所属」、「試料情報
　（化学式、結晶相、相転移温度など）」を記入のうえ、ご連絡ください。

加熱ステージについて
　製品名　　　　BTS 500 (Anton Paar社製)
　温度範囲　　　室温 (装置内温度) ～ 500℃
　測定雰囲気　　大気
　試料ホルダー　表面材質　Ni
　　　　　　　　サイズ　　16×14×0.8 mmまたは16×14×0.2 mm

本件の詳細やご不明な点は下記の連絡先にお問い合わせください。
みなさまのご協力をお願い申し上げます。

連絡先
　e-mail：xray"@"cama.titech.ac.jp ("@"は@に変更してください)
　内線：3647
　担当：鈴木、飯田

■2017年4月17日　分析利用料金 改定のお知らせ

2017年4月より分析料金が改定となりました。
詳細は「利用料金」より必要な書類を入手しご確認ください。

■2017年4月3日　セルフユーザー講習再開のお知らせ

昨年より講習を停止していた下記装置について4月より講習を再開します。
ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム
4.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
5.　真空蒸着装置 JEE-420T

 2016年度

■2017年2月15日　オスミウムプラズマコーター整備のお知らせ【重要】

【追加 2017年3月6日】
オスミウムプラズマコーターの整備が終了しました。つきましては利用受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞ宜しくお願いいたします。

2月28日（火）より1週間程度、オスミウムプラズマコーターを整備に出すことになりました。この間、オスミウムプラズマコーターは利用できません。ご利用を予定されている方はご注意ください。

サービス再開時には、webでご連絡します。

■2016年12月27日　平成28年度第4四半期(1〜3月）における、セルフユーザー利用料金の減額試行について【重要】

【追加 2017年4月3日】
セルフユーザー利用料金の減額試行は3月末をもって終了いたしました。
ご利用誠にありがとうございました。

大岡山分析部門のサービス拡充の試みとして、平成28年度第４四半期におけるセルフユーザー利用料金を試験的に減額します。

■2016年12月20日　大岡山分析部門 年末年始休業について

大岡山分析部門は下記年末年始期間に部門の業務を休止します。
新年は2017年1月4日(水)よりサービス再開をいたします。

　休業期間：2016年12月29日(木) から 2017年1月3日(火)

■2016年11月25日　FE-SEM　JSM-7500F故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加 2016年12月5日】
FE-SEM　JSM-7500Fの修理が終了しました。つきましては分析受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞ宜しくお願いいたします。

11月22日から、FE-SEM　JSM-7500Fは故障が起きたためセルフユーザーの利用を停止します。
現在、メーカーによる修理の実施を検討しております。

修理が終了次第、メール及びホームページでご報告いたします。

ご不便をおかけしますが、ご理解の程よろしくお願いいたします。

■2016年11月1日　全学防災訓練日の部門業務停止のお知らせ【重要】

2016年11月9日(水)に実施される全学の防災訓練にあわせて部門の業務を停止します。
利用者の皆様にご不便をおかけしますがご協力宜しくお願いいたします。

■2016年11月1日　セルフユーザー講習の受付を一時停止する装置について【重要】

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2016年11月30日で受付停止します。
対象装置は以下の機種です。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム
4.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
5.　真空蒸着装置 JEE-420T

現在繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。
御利用を検討されていた方には大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2017年3月以降を見込んでおります。

■2016年10月1日　分析利用料金 改定のお知らせ【重要】

2016年10月より分析料金が改定となります。
詳細は料金表をダウンロードしてご確認ください。

「利用料金」より必要な書類を入手してください。

■2016年9月20日　新規 ICP-OESセルフユーザー開放について

ICP-OES Prodigy ICPの運用停止ではご不便をおかけしました。
セルフユーザー利用可能なICP-OES【アジレント・テクノロジー社製 Agilent 5100 VDV ICP-OES】 を9月にを導入しました。

10月3日よりセルフ開放予定ですので、10月3日以降のセルフユーザー講習の受付を開始致します。

現在ICP-OESのユーザーライセンスをお持ちでも講習を受講していただかないと、今後の予約は出来ませんのでご了承下さい。

よろしくお願い致します。

→ Agilent 5100 VDV ICP-OES 装置情報

■2016年8月31日　XRDセミナー（英語）開催のお知らせ
　　　　　　　　　　Application for a XRD seminar

9月13日に英語によるXRDのセミナーを開催します。内容はpdfファイルをご覧ください。
We hold a XRD seminar in English on Sept. 13 (Tue), 2016.

→XRD seminar.pdf

■2016年8月4日　ToF-SIMS故障による依頼分析停止のお知らせ【重要】

【追加 2016年9月2日】
9月1日、ToF-SIMSの修理が終了しました。つきましては依頼分析受付を再開いたします。
ご不便をお掛けいたしました。どうぞ宜しくお願いいたします。

8月1日現在、ToF-SIMSは故障により、測定が出来ません。復旧見込みがつかないため、修理完了まで依頼分析受付を停止します。

ご不便をおかけしますが、ご理解の程宜しくお願いいたします。

■2016年7月12日　ICP-OES Prodigy ICP利用停止のお知らせ【重要】

長くセルフユーザーの皆様に御利用いただいておりました Leeman製/日本電子 Prodigy ICPは、新規導入されるアジレント製 Agilent5100 ICP-OESへの装置更新のため2016年8月10日をもって利用を停止します。

ICP-OESのセルフ利用再開についてはすみやかに実施したいと考えております。再開しましたら、セルフユーザーの皆様にはメール及びホームページ上でお知らせします。

利用できない期間、また装置更新に伴い現在ユーザーの皆様には新装置の利用講習を受けていただくことになる等ご不便をおかけしますが、何卒ご理解いただきたくお願いいたします。

ご不明な点等ございましたら、下記担当までお問い合わせください。宜しくお願いいたします。
内線7225　大塚

■2016年7月5日　大岡山分析部門 夏季休業期間について

大岡山地区全域停電（8月13日、14日）と、それに伴う措置等のため下記期間は部門の業務を休止します。

　　2016年8月10日(水) から 8月16日(火)

停電明けの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせしますのでご注意下さい。
セルフ装置の予約システムは、8月10日(水) 17時 ～ 8月16日(火) 10時 まで停止します。

サービス再開予定：8月17日(水)
※D8 DISCOVERは 8月18日(木) 再開予定です。

■2016年7月01日　ウェブページ リニューアルのお知らせ

このたび大岡山分析部門のウェブページをリニューアルいたしました。より見やすく、使いやすいものとなるよう心がけてまいります。どうぞよろしくお願いいたします。

■2016年6月21日　ICP-OES故障による利用停止ののお知らせ【重要】

【追加 2016年6月23日】
ICP-OESは修理が完了し、通常運用に戻りました。

6月21日(火)、ICP-OESに不具合が発生し、装置が使用できない状況になっています。 復旧は未定です。
再稼働についてはwebで告知いたします。皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどお願いいたします。

■2016年5月17日　オスミウムプラズマコーター修理のお知らせ【重要】

【追加 2016年6月1日】
オスミウムプラズマコーターは修理が完了し、通常運用に戻りました。

5月27日（金）よりオスミウムプラズマコーターを1週間程度、メーカーへ修理に出すことになりました。この間、オスミウムプラズマコーターは利用できません。ご不便をおかけして申し訳ありません。ご利用を予定されている方ははご注意ください。

サービス再開時には、webでご連絡します。

■2016年5月9日　集束イオンビーム加工装置　JEM-9310FIB故障による使用停止のお知らせ【重要】

【追加 2016年5月23日】
JEM-9310FIBは修理が完了し、通常運用に戻りました。

集束イオンビーム加工装置　JEM-9310FIBは現在不具合が生じており、使用できません。
修理完了し次第、webでお知らせし、予約できるようにいたします。
御不便、御迷惑をおかけします

■2016年4月1日　施設名称変更のお知らせ

技術部 大岡山分析支援センターは、学内名称の重複化を避けるため、2016年4月1日より
「技術部　大岡山分析部門」
と名称変更することとなりました。

■2016年4月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2016年4月より分析料金が改定となります。
詳細は料金表をダウンロードしてご確認ください。

大学の研究費用に関するガイドラインに沿って利用方法が変更になっております。
ご利用にあたりましてはトップページの案内文をご覧になってください。

こちらのページより必要な書類を入手してください。

 2015年度

■2016年1月26日　南7号館内循環水の改修工事に伴う利用停止(MPD・MRD・D8)【重要】

【追加 2016年3月28日】
工事は終了し、通常運用に戻りました。

2016年2月15日(月)から3月7日(月)まで、建物循環水の改修工事に伴い、建物循環水を使用しているMPD、MRD、D8 DISCOVERの利用を休止いたします。
ご不便をおかけすることをお詫び申し上げます。

なお、MiniFlexについては通常通り利用できます

■2015年12月14日　透過電子顕微鏡　H7650故障による使用停止のお知らせ【重要】

【追加 2015年12月16日】
TEM H7650は修理が完了し、通常運用に戻りました。

透過電子顕微鏡H7650に現在不具合が生じており、使用できません。
12月14日～18日の間、ご予約ができません。
修理完了し次第、webでお知らせし、ご予約できるようにいたします。

御不便、御迷惑をおかけします。

■2015年11月25日　EPMAメンテナンスに伴う利用停止【重要】

2015年12月14日(月)から12月18日(金)までの5日間、装置メンテナンスに伴い
EPMA（JXA-8100）がご使用いただけません。

ご不便をおかけすることをお詫び申し上げます。

■2015年11月5日　セルフユーザー講習の受付を一時停止する装置について【重要】

【追加 2016年4月1日】
講習を停止していた下記装置について4月1日より講習を再開します。
ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム
4.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
5.　真空蒸着装置 JEE-420T

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2015年11月20日で受付停止します。対象装置は以下の機種です。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　ウルトラミクロトーム
3.　ウルトラクライオトーム
4.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
5.　真空蒸着装置 JEE-420T

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2016年3月以降を見込んでおります。

■2015年10月27日　分析セミナー　-無機分析セミナー ICP基礎編-

平素は大岡山分析支援センターをご利用いただき、ありがとうございます。
ICP-OES,ICP-MS装置のご利用をされている方、今後、ご利用を予定されている方や
ご興味のある方等を対象に、ICP-OES,ICP-MS分析の基礎講習会を開催いたします。
参加費用は無料です。是非、この機会をご活用ください。

記

1.　日　　時：　2015年11月18日（水）　13:00 ～ 17:00

　　　　　　　　プログラム内容　-無機分析セミナー ICP基礎編-
　　　　　　　　（メーカーの方に解説していただきます）
　　　　　　　　13：00～14：30　ICPの前処理法について
　　　　　　　　14：30～15：00　休憩
　　　　　　　　15：00～15：45　ICP-OESの原理と応用
　　　　　　　　16：00～16：45　ICP-MSの原理と応用
　　　　　　　　（現有装置 アジレント テクノロジー7700x -MassHunmterに重点）

2.　場　　所：　大岡山 南7号館 315号室 大岡山分析支援センター研修室
3.　対　　象：　研究室に所属している学生、教職員
　　　　　　　　（ICP-OES,ICP-MS装置のご利用されている方、予定されている方や
　　　　　　　　　ご興味のある方）
4.　定　　員：　25名程度
5.　申込方法：　ご希望の方は申込内容を記載のうえ、件名に【ICPセミナー参加希望】
　　　　　　　　と表記してe-mailにてご連絡ください。

　　 　　　　　　・申込の記載事項
　　　　　　　　　　○ご氏名：
　　　　　　　　　　○部局名（研究科・学部・研究所・センター、専攻、研究室）：
　　　　　　　　　　○e-mailアドレス：
　　　　　　　　　　○内線番号：
　　　　　　　　・申込締切：11月11日（水）
　　　　　　　　・申込先 : ohtsuka.y.ab@m.titech.ac.jp　（大塚宛）

6.　その他　：　身近の方で興味のある方がいらっしゃいましたらお声をおかけください。
　　　　　　　　よろしくお願いいたします。

　　　　　　　　　連絡先 ： 大岡山分析支援センター　大塚
　　　　　　　　　E-mail ：ohtsuka.y.ab@m.titech.ac.jp
　　　　　　　　　電　話 ： 内線7225

■2015年10月21日　ICP-OES故障による利用停止のお知らせ

【追加 2015年10月30日】
ICP-OESは修理が完了し、通常運用に戻りました。

10月20日(火)、ICP-OESに不具合が発生し、装置が使用できない状況になっています。
復旧は未定です。
再稼働についてはwebで告知いたします。

皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどお願いいたします

■2015年8月24日　TOF-SIMS故障による依頼分析停止のお知らせ

【追加 2015年10月7日】
TOF-SIMSは修理が完了し、通常運用に戻りました。

TOF-SIMS (飛行時間型二次イオン質量分析装置)はトラブルのため、修理完了まで依頼分析を停止します。

■2015年7月28日　透過電子顕微鏡　H7650故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加 2015年8月24日】
TEM H7650は修理が完了し、通常運用に戻りました。

透過電子顕微鏡H7650は、排気系にトラブルが生じ、現在御利用いただけません。
復旧し次第webにてお知らせいたします。

御不便をおかけしますこと、お詫びいたします。

■2015年7月7日　大岡山分析支援センター夏季休業期間について

大岡山地区全域停電（8月15日、16日）とそれに伴う措置等のため下記期間センターの業務を休止します。

2015年8月13日（木）から8月19日（水）

停電明けの各装置の復旧状況についてはこの欄でお知らせします。
セルフ装置の予約システムは、8月12日(水)17時 ～ 8月17日(月)10時 まで停止します。

※サービス再開予定
現時点では8月20日(木)にすべての装置が再開する予定です。

■2015年7月1日　卓上X線回折装置　Mini Flex 600　運用開始について【重要】

装　置　名　：　リガク社製　Mini Flex 600
装置詳細　　：　高速1次元検出器D/teX Ultra2を用い、従来よりも早くきれいに測定が
　　　　　　　　できるようになりました。
キーワード　：　粉末X線回折法、格子定数測定等

■2015年4月1日　機械系分析装置の管理替えについて【重要】

石川台地区機械系分析室の装置管理は、2015年3月31日をもって機械系に管理替えしました。詳細・装置予約については こちら からお進みください。

■2015年4月1日　サービスを終了する分析装置について【重要】

・CHNコーダー　（有機元素分析装置）
上記装置は2015年3月31日をもってサービスを終了しました。
導入から多くの方にご利用頂きましたこと、感謝申し上げます。

■2015年4月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2015年4月より分析料金が改定となります。
詳細は料金表（最新2015.04.07）をダウンロードしてご確認ください。

大学の研究費用に関するガイドラインに沿って利用方法が変更になっております。
ご利用にあたりましては下記ページの案内文をご覧になってください。

こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2015年4月1日　【4月6日から4月27日まで受付】無料分析キャンペーン【重要】

大岡山分析支援センターではセンター職員の分析技術向上にご協力いただける方を募集しております。ご協力いただいた依頼分析は料金を無料とさせていただきます。

応募資格：東京工業大学職員　または　本学研究室に所属する学生
対象装置：オージェ分光装置（AES）、電子プローブマイクロアナライザ（EPMA）
　　　　　ラマン分光装置（Raman）、赤外吸収分光装置（FT-IR）
募集件数：各装置　5件
受付期間：2015年　4月6日　から　4月27日
申込用紙：FE-AES　：　AUGER ver 4.0.doc
　　　　　EPMA　　：　EM ver 4.0.doc
　　　　　Raman 　：　Raman ver 4.0.doc
　　　　　FT-IR 　　：　FT-IR ver 4.0.doc

申込用紙に必要事項をご記入の上、下記申し込み先までメールで送信してください。（捺印不要）
申込先：soudan@cama.titech.ac.jp
件名には「分析技術向上協力」とご記入ください

不明な点は上記申込先宛にメールを頂くか、内線3648（担当：多田）までご連絡ください。みなさまのご協力をお願い申し上げます。

応募上の注意
・1つの装置に対し、1研究室から1件のみの応募とさせていただきます。
・本募集の目的にそぐわないお申し込みは無料でお受けできない場合がありますので
　ご了承ください。
・通常の依頼分析より少々お時間を頂く場合がありますのでご了承ください。

 2014年度

■2015年3月2日　分析技術向上にご協力頂ける方の募集【重要】

大岡山分析支援センターではセンター職員の分析技術向上にご協力いただける方を募集しております。ご協力いただいた依頼分析は料金を無料とさせていただきます。

応募資格：東京工業大学職員　または　本学研究室に所属する学生
対象装置：FE-AES、EPMA、Raman、FT-IR
募集件数：各装置　5件
受付期間：2015年　3月2日　から　3月13日
申込用紙：FE-AES　：　AUGER ver 3.8.doc
　　　　　EPMA　　：　EM ver 3.8.doc
　　　　　Raman 　：　Raman ver 3.8.doc
　　　　　FT-IR 　　：　FT-IR ver 3.8.doc

申込用紙に必要事項をご記入の上、下記申し込み先までメールで送信してください。（捺印不要）
申込先：soudan@cama.titech.ac.jp
件名には「分析技術向上協力」とご記入ください

みなさまのご協力をお願い申し上げます。

応募上の注意
・1つの装置に対し、1研究室から1件のみの応募とさせていただきます。
・本募集の目的にそぐわないお申し込みは無料でお受けできない場合がありますので
　ご了承ください。

■2015年1月8日　透過電子顕微鏡　H7650故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2015年1月14日】
TEM H7650は修理が完了し、通常運用に戻りました。

尚、しばらく装置の動作が不安定となることが予測されます。不具合が生じましたら、担当職員(菊地・幸喜)にお声がけ下さい。

1月8日(木)H7650に不具合が発生し、装置が使用できない状況になっています。
再稼働についてはwebで告知いたします。

■2014年11月28日　セルフユーザー講習を一時停止する装置について【重要】

【追加2015年4月1日】
講習を停止していた下記装置について4月1日より講習を再開します。ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　FIB JEM-9310FIB
3.　ウルトラミクロトーム UST
4.　ウルトラクライオトーム FCS
5.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
6.　真空蒸着装置 JEE-420T

【追加2015年3月9日】
講習を停止していた下記装置について3月9日より講習を再開します。ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。
5,6に関してはもうしばらく講習停止を継続します。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　FIB JEM-9310FIB
3.　ウルトラミクロトーム UST
4.　ウルトラクライオトーム FCS

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2014年12月1日で受付停止します。対象装置は以下の機種です。
対象装置は以下の機種です。

1.　FE-SEM JSM-7500F
2.　FIB JEM-9310FIB
3.　ウルトラミクロトーム UST
4.　ウルトラクライオトーム FCS
5.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
6.　真空蒸着装置 JEE-420T

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2015年3月以降を見込んでおります。

■2014年11月26日　ラマン分光装置　NSR-4100 運用開始（依頼分析）について

装　置　名：　日本分光社製　NSR-4100

2014年12月1日よりラマン分光装置NRS-4100の運用を開始いたします。
年度内は依頼分析のみとなります。
詳細につきましてはセンター（soudanメール）までお問い合わせください。

■2014年11月21日　ICP-OES不具合のお知らせ【重要】

【追加2015年1月5日】
ICP-OESは現在復旧し、通常運用に戻りました。

現在ICP-OESに不具合が発生し、HF及びアルカリ溶液、ホウ素の測定が出来ない状況になっています。復旧は12月末になる見込みです。
尚、水溶液の測定は今まで通り行えます。

利用者の皆様にご不便をおかけしますがご協力宜しくお願いいたします。

■2014年11月10日　全学防災訓練日のセンター業務停止のお知らせ【重要】

2014年11月12日(水)に実施される全学の防災訓練にあわせてセンターの業務を停止します。

利用者の皆様にご不便をおかけしますがご協力宜しくお願いいたします。

■2014年10月10日　台風19号によるセンターサービス業務について【重要】

大学からも注意喚起のあった10月14日頃関東に接近の恐れがある台風19号について
状況によっては大岡山分析支援センターで一部利用できない機器またはサービスがでる可能性があります。

利用者様にご不便をおかけすることがおこった場合は何卒ご理解いただきたくお願いいたします。

■2014年8月25日　透過電子顕微鏡　H7650故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2014年8月29日】
TEM H-7650は復旧し、通常運用に戻りました。

8月25日(月)H7650に不具合が発生し、装置が使用できない状況になっています。
復旧は翌週以降になる見込みです。
再稼働についてはwebで告知いたします。

皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解のほどお願いいたします。

■2014年8月25日　FE-SEM JSM-7500F故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2014年8月22日】
FE-SEM JSM-7500Fは復旧し、通常運用に戻りました。

8月21日にトラブルが発生し、装置使用不能です。
誠に申し訳ありませんが復旧するまでお待ちください。
復旧しましたら再度ホームページ上でご連絡いたします。

■2014年8月18日　凍結試料作製装置　JFD-9010運用開始について

　　装　置　名：　日本電子社製　JFD-9010
　　装置詳細　：　急速凍結されたエマルション、含水、含油試料、軟試料などを
　　　　　　　　　凍結されたまま真空中で割断、エッチング、蒸着するレプリカ作製装置
　　キーワード：　フリーズフラクチャー法、フリーズエッチング法、抽出レプリカ法

詳細につきましてはセンター（soudanメール）までお問い合わせください。

■2014年7月23日　大岡山分析支援センター業務休止について

大岡山地区全域停電（8月11日、12日）とそれに伴う措置等のため下記期間センターの業務を休止します。

　　2014年8月11日（月）から8月15日（金）

停電明けの各装置の復旧状況についてはホームページでお知らせしますのでご注意下さい。
セルフ装置の予約システムは、8月8日(金)17時 ～ 8月13日(水)10時 まで停止します。

※サービス再開予定
下記装置以外は8月18日(月)よりサービスを再開します。

　　D8 DISCOVER　　：　　8月26日より再開

■2014年7月1日　新規　FE-SEM運用開始およびセルフユーザー開放について【重要】

S4500の運用停止でご不便をおかけしておりましたセルフユーザー利用可能なFE-SEMについて本年度新規に日本電子製JSM-7500Fを導入しました。
順次セルフユーザー講習・依頼分析の受付を開始します。詳細につきましてはセンター（soudanメール）までお問い合わせください。よろしくお願い致します。

■2014年5月20日　センターの空調設備改修工事による装置停止について【重要】

5月19日～6月29日に南7号館の空調改修工事が行われる為、工事期間中、各装置使用出来ない期間があります。
ご不便をおかけしますが、何卒ご理解のほど宜しくお願いいたします。
詳細につきましてはセンターまでお問い合わせください。よろしくお願い致します。

■2014年5月1日　透過電子顕微鏡　H7650故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2014年5月27日】
TEM　H7650は復旧し、通常運用に戻りました。

現在、透過電子顕微鏡H7650に深刻なトラブルが発生しており、使用することができません。近々にメーカーにより修理が行われる予定です。
再稼働についてはwebで告知いたします。
御不便をおかけしますことお詫び申し上げます。

■2014年4月25日　EPMA故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2014年7月1日】
EPMAは復旧し、通常運用に戻りました。

4月25日にトラブルが発生し、装置使用不能です。誠に申し訳ありませんが復旧するまでお待ちください。復旧しましたら再度ホームページ上でご連絡いたします。

■2014年4月22日　レーザー顕微ラマン分光光度計NRS-2100サービス廃止のお知らせ【重要】

レーザー顕微ラマン分光光度計　NRS-2100は2014年4月をもってサービスを廃止いたしました。

現在、代替機導入を検討いたしております。詳細が決まり次第、弊センターHPお知らせ欄に情報を掲載させていただきます。

■2014年4月10日　FE-SEM　S4500利用停止のお知らせ【重要】

長くセルフユーザーの皆様に御利用いただいておりました日立製FE-SEM　S4500は、学内移管される日本電子製FE-SEM　JSM-7500Fへの装置更新のため2014年4月16日をもって利用を停止します。

走査電子顕微鏡のセルフ利用再開についてはすみやかに実施したいと考えております。再開しましたら、セルフユーザーの皆様にはメール及びホームページ上でお知らせします。

利用できない期間、また装置更新に伴い現在ユーザーの皆様には新装置の利用講習を受けていただくことになる等ご不便をおかけしますが、何卒ご理解いただきたくお願いいたします。

利用停止期間の観察希望については依頼分析を御利用ください。

ご不明な点等ございましたら、下記担当までお問い合わせください。宜しくお願いいたします。

内線2157　堀

■2014年4月8日　最新鋭　超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡の運用開始について【重要】

2014年4月8日より、新しくインレンズ型FE-SEM SU9000(HITACHI)の運用を開始しました。本機は、平成25年度「研究大学強化促進事業・補助金」により導入されました。
文部科学省の唱える「研究環境の全学的・継続的な改善」に、大岡山分析支援センターは、最高性能のSEMを導入することによって応えます。

加速電圧30KVで0.4nmの高分解能を有する収差の少ない電子銃は、同時に高輝度の安定したプローブ電流を実現し、拡張機能のエネルギー分散型X線分析装置、STEM検出器と併せて、防音、除振にも配慮し、これまで大岡山分析支援センターでは観ることが出来なかった様々な構造を、私たちに観せてくれることが期待されます。

インレンズ方式ゆえに、試料サイズや磁性材料が観察出来ない等の制限はあるものの、これまでに蓄積した試料作製技術と併せて、皆様の研究を支援します。依頼分析専用装置として運用します。利用料金は料金表を御参照下さい。

装置構成
　インレンズFE-SEM SU9000(HITACHI)
　・低角度反射電子検出器
　・反射電子検出器
　・STEM検出器

　エネルギー分散型X線分析装置
　・シリコンドリフト検出器(分解能129eV)
　・アナライザ GENESIS(AMETEK EDAX)

　環境
　・アクティブ磁場キャンセラ
　・除振台

■2014年4月1日　分析利用料金を改定しました．【重要】

2014年4月8日、SU9000の導入により分析料金に追加分があります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

2014年4月より分析料金が改定となります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2014年4月1日　FE-SEM S4500セルフユーザー講習の制限について【重要】

平素は当センターのFE-SEM S4500を御利用いただきありがとうございます。

御利用いただいているS4500は本年度の早期に新しいFE-SEMに更新する予定です。
そのためFE-SEMの御利用を予定されている方はしばらくお待ちいただく方針をとらせていただきます。それでも講習を希望される場合は、センターの担当にご相談ください。観察を希望する場合は、依頼でお申し込みください。

更新がすみ次第、速やかに講習再開を目指します。ご不便をおかけしますが、何卒ご理解のほど宜しくお願いいたします。

詳細についてはセンターまでお問い合わせください。宜しくお願いいたします。

 2013年度

■2014年2月25日　新規走査型電子顕微鏡導入に伴う、電子顕微鏡室の利用制限【重要】

3月10日(月）から3月20日(木)にかけて3階310号室（電子顕微鏡室）に新規の走査型電子顕微鏡（日立ハイテク社製：SU9000）が搬入されます。
これに伴いまして、いくつかの装置のセルフ利用を制限します。くわしくは予約システムでご確認ください。

※　現時点でセルフでの利用停止を決めている装置
　1.　S4500　　3月10日から11日
　2.　CP-2　　　3月10日から20日

大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。
詳細についてはセンターまでお問い合わせください。宜しくお願いいたします。
その他ご不明の点は内線2157の堀までお問い合わせください。

■2013年12月20日　セルフユーザー講習を一時停止する装置について【重要】

【追加2014年4月1日】
講習を停止していた下記装置について4月1日より講習を再開します。ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。

2.　FIB JEM-9310FIB
3.　ウルトラミクロトーム UST
4.　ウルトラクライオトーム FCS
5.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
6.　真空蒸着装置 JEE-420T

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2013年12月20日で停止します。対象装置は以下の3機種です。

1.　FE-SEM S-4500
2.　FIB JEM-9310FIB
3.　ウルトラミクロトーム UST
4.　ウルトラクライオトーム FCS
5.　クロスセクションポリッシャ CP Mk-II
6.　真空蒸着装置 JEE-420T

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2014年3月以降を見込んでおります。

■2013年12月20日　EPMA故障による利用停止のお知らせ【重要】

【追加2013年12月26日】
EPMA は復旧し、通常運用に戻りました。

12月19日真空漏れが発生し、装置使用不能です。
誠に申し訳ありませんが復旧するまでお待ちください。
復旧しましたら再度ホームページ上でご連絡いたします。

■2013年10月22日　全学防災訓練日のセンター業務停止のお知らせ【重要】

2013年11月13日(水)に実施される全学の防災訓練にあわせてセンターの業務を停止します。
利用者の皆様にご不便をおかけしますがご協力宜しくお願いいたします。

■2013年10月21日　ラマン分光装置利用中止のお知らせ【重要】

ラマン分光装置NRS-2100は、10月21日に起きましたレーザー光源の故障により利用中止とさせていただきます。
利用者の皆様にご不便をおかけすることをお詫び申し上げます。

■2013年8月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2013年8月より分析料金が改定となります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2013年7月22日　AES（オージェ電子分光装置）セルフユーザー開放について

7月22日よりオージェ電子分光装置がセルフユーザー利用可能となります。
詳しい内容は弊センター相談窓口 (soudan @ cama.titech.ac.jp) までお問い合わせください。

■2013年6月26日　サービスを終了する分析装置

1.　GD-OES（グロー放電発光分析装置）
2.　LM（レーザー顕微鏡）
3.　IB-3（イオンスパッタコーター）

上記装置は2013年7月31日をもってサービスを終了します。導入から多くの方に御利用いただきましたこと、感謝申し上げます。

■2013年6月25日　大岡山分析支援センター業務休止について

大岡山地区全域停電（8月10日、11日）とそれに伴う措置等のため下記期間センターの業務を休止します。

　2013年8月10日（土）から8月18日（日）

停電明けの各装置の復旧状況についてはホームページで随時お知らせしますのでご注意下さい。

　※現状ではD8　DISCOVERが8月21日(水)移行の運用再開予定です。

■2013年5月8日　ウルトラミクロトームの依頼業務受付の一時停止について

【追加2013年6月11日】
ウルトラミクロトーム は依頼受付を再開し、通常運用に戻りました。

ウルトラミクロトーム（ウルトラクライオトーム）は、トラブルの為しばらくの間依頼業務を休止いたします。

再開は6月後半を予定しております。復旧いたしましたら改めてwebにて告知いたします。
御不便、御迷惑をおかけします。

■2013年4月18日　大岡山分析支援センター 分析セミナー　-Ｘ線回折装置 D8 DISCOVER 説明会-

平素は大岡山分析支援センターをご利用いただき、ありがとうございます。
さて、当センターでは昨年度末にX線回折装置D8 DISCOVER (Bruker AXS社製)の2次元検出器の更新をいたしました。 以前の物と比べて、強い回折強度も検出でき、より使用しやすくなりました。
そこで、今後、X線回折装置のご利用を予定されている方や2次元検出器にご興味のある方等を対象に、講習会を開催いたします。
参加費用は無料です。是非、この機会をご活用ください。

記

1.日　時　　2013年5月17日（金）　13:20 ～ 17:00
2.場　所　　大岡山 南7号館 315号室 大岡山分析支援センター研修室
3.対象者　　研究室に所属している学生、教職員
　　　　　　 (X線回折装置を使う予定のある方、2次元検出器にご興味のある方)
4.定　員　　20名程度
　　　　　　 (申込多数の場合は1研究室 2名でお願いすることがあります)
5.内　容　 メーカー (Bruker AXS) の方から測定例を交え解説していただきます。
　　　　　　　・X線回折法の基礎
　　　　　　　・2次元検出器とシンチレーションカウンタの違い
　　　　　　　・2次元検出器の利点
6.申込方法　ご希望の方は申込内容を記載のうえ、件名に[X線回折装置 説明会参加希望]
　　　　　　と表記してe-mailにてご連絡ください。
　　　　　　　・申込の記載事項
　　　　　　　　○ご氏名：
　　　　　　　　○部局名（研究科・学部・研究所・センター、専攻、研究室）：
　　　　　　　　○e-mailアドレス：
　　　　　　　　○内線番号：
　　　　　　　・申込締切：5月7日（火）
　　　　　　　・申込先 : ysuzuki @ tsd.(titech.ac.jp)
7.　その他　このご案内は2012年度に大岡山分析支援センターをご利用いただいた研究室に
　　　　　　お送りしています。身近の方で興味のある方がいらっしゃいましたらお声を
　　　　　　おかけください。よろしくお願いいたします。

■2013年4月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2013年4月より分析料金が改定となります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

 2012年度

■2013年3月14日　透過電子顕微鏡H-7650故障のお知らせ

【追加2013年4月5日】
TEM H-7650 は復旧し、通常運用に戻りました。

透過電子顕微鏡H-7650は、排気系に生じたトラブルの為、現在使用できません。
復旧いたしましたら改めてwebにて告知いたします。御不便をおかけします。

■2013年1月22日　ウルトラミクロトーム故障のお知らせ

【追加2013年3月12】
ウルトラミクロトーム は復旧し、通常運用に戻りました。

ウルトラミクロトームは故障のため、修理作業が終了するまで利用を休止いたします。

■2013年1月21日　MPD故障のお知らせ

【追加2013年3月4】
MPD は復旧し、通常運用に戻りました。

管球冷却用のチラーが故障したため、修理作業が終了するまで利用を休止いたします。

■2012年12月10日　EPMA故障のお知らせ

【追加2012年12月11】
EPMA は復旧し、通常運用に戻りました。
修理が完了し、復旧を確認いたしましたので利用を再開いたします

EPMAは真空不良のため、修理完了まで利用を休止いたします。

■2012年12月3日　CHN　国内のHe供給不足によるセルフユーザー利用の一時制限について

CHNはHeの供給不安定のため一時的にセルフユーザーの使用を制限させていただきます。

セルフ利用の予約をしても使用時にHeがない場合は使用できません。
Heの納入状況によりますが、確実に測定をしたい場合は依頼でお申し込みください。

■2012年11月19日　南7号館循環冷却水のトラブルによるセルフ使用機器の利用停止について

【追加2013年1月7】
循環冷却水の動作はまだ不安定ですが、以下の装置の利用停止を解除します。
　　1.　TEM　H-7650
　　2.　X'Pert-MPD-OEC
　　3.　X'Pert-Pro-MRD
　　4.　D8　DISCOVER

南7号館の循環冷却水が故障している関係で、以下の装置のセルフユーザ利用を停止いたします。対象装置は以下の４機種です。

　　1.　TEM　H-7650
　　2.　X'Pert-MPD-OEC
　　3.　X'Pert-Pro-MRD
　　4.　D8　DISCOVER

再開は未定です。なお、依頼分析に関しましては通常通りお受けいたします。ご不便をおかけいたしますが、宜しくお願いします。

■2012年11月5日　学内共同利用機器一覧の公開（東工大　研究戦略室）

東京工業大学研究戦略室が各研究室、部局等で管理している研究設備のうち、学内共同利用機器として他部局等の研究者が利用可能な機器についてまとめらています。

http://www.rso.titech.ac.jp/equipment/

※掲載している機器の利用に関しては、各機器の連絡先へ直接お問い合わせ下さい。

※上記以外のお問い合わせ・ご意見は下記にお願いします。
　研究支援管理室　（内線:7609）

※研究戦略室のトップページからは上部の「賞・支援事業」を選択し、左のタグの一番下にある「学内共同利用機器一覧（学内限定）」からご参照ください。

■2012年11月5日　セルフユーザー講習を一時停止する装置について

【追加2013年3月12】
FE-SEM　S-4500, FIB　JEM-9310　及び　ウルトラミクロトームのセルフユーザー講習を再開します。
昨年12月より実施していたS-4500およびFIBに対するセルフユーザー講習の停止ですが、現在解除して講習受付を再開しています。
ご不便をかけ、申し訳ありませんでした。

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2012年11月30日で停止します。対象装置は以下の3機種です。

1.FE-SEM S-4500
2.FIB JEM-9310FIB
3.ウルトラミクロトーム

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2012年3月以降を見込んでおります。

■2012年10月29日　CHN故障のお知らせ

【追加2013年11月16】
CHN は復旧し、通常運用に戻りました。修理が完了し、復旧を確認いたしましたので利用を再開いたします。

CHNコーダー（MT-6）はヒーターが故障したため修理作業が終了するまで利用を休止いたします。

■2012年7月31日　リアルサーフェイスビュー顕微鏡 VE-9800 新規導入のお知らせ

手軽に試料表面の二次電子像観察が可能なキーエンス社製簡易SEMリアルサーフェイスビュー顕微鏡(VE-9800)が導入されました（セルフ利用可）。
皆様のご利用をお待ちしております。

■2012年7月27日　ラマン故障のお知らせ

【追加2013年7月30】
ラマン は復旧し、通常運用に戻りました。
ラマン分光光度計（NRS-2100）の光学系異常について、メーカーによる調整が完了し、復旧を確認いたしましたので利用を再開いたします。

ラマン分光光度計（NRS-2100）において光学系の異常が認められました。修理完了まで利用を休止いたします。7月27日にメーカーによる調整を行い、30日現在状況確認中

■2012年7月20日　FT-IR故障のお知らせ

【追加2013年7月31】
FT-IR（SPX-200)は空気乾燥器の仮修理を行い安定動作を確認したため、利用を再開いたします。
本修理までの間、空気乾燥器の不具合で利用休止するおそれがあることをご了承の上、御利用下さい。

【追加2013年7月20】
FT-IR　（SPX-200)は空気乾燥器が再び故障したため、修理完了まで利用を休止いたします。

【追加2013年7月20】
FT-IR は復旧し、通常運用に戻りました。

FT-IR　（SPX-200)は空気乾燥器が故障したため、修理完了まで利用を休止いたします。

■2012年6月11日　断面試料作製装置クロスセクションポリッシャ新規導入のお知らせ

SEMやEPMA,オージェなどで断面試料を作製するための加工装置クロスセクションポリッシャ (CP Mk-II SM-09020CP)が導入されました（セルフ利用可）。
皆様のご利用をお待ちしております。

■2012年6月5日　大岡山分析支援センター業務休止について

大岡山地区全域停電（8月13日、14日）とそれに伴う措置等のため下記期間センターの業務を休止します。

　2012年8月11日（土）から8月19日（日）
停電明けの各装置の復旧状況についてはホームページでお知らせしますのでご注意下さい。
セルフ装置の予約システムは、8月10日(金)17時 ～ 8月16日(木)10時 まで停止します。

■2012年5月30日　TOF-SIMS故障のお知らせ

【追加2013年6月25】
TOF-SIMS は復旧し、通常運用に戻りました。

TOF-SIMS (飛行時間型二次イオン質量分析装置)は真空排気系トラブルのため、修理完了まで利用を休止します。

■2012年4月17日　E-SEMはサービスを終了しました。

これまで種々の特殊観察を行ってまいりましたESEM2700ですが、2012年4月1日をもって運用を終了しました。経年劣化による故障が頻発するようになり、また、メーカーサポートも終了したことから、今後「研究の道具」としての役目を充分に果たすことができなくなりました。導入から20年近くの間、多くの方に御利用いただきましたこと、感謝申し上げます。

 2011年度

■2012年3月27日　分析利用料金を改定しました。【重要】

2012年4月より分析料金が改定となります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2012年1月25日　TOF-SIMS故障のお知らせ

【追加2012年2月14】
D8 DISCOVER は復旧し、通常運用に戻りました。

微小部X線回折装置（D8 DISCOVER）2theta軸制御系故障のため、修理完了まで利用を休止いたします。

■2012年1月6日　分析依頼に使用する申請用紙を改訂

分析支援センターで使用する各種申請用紙（依頼申請・講習申請等）を改訂しました。
今後は改訂された申請用紙をご使用くださいますようお願いいたします。

■2011年12月16日　FIB故障のお知らせ

【追加2012年1月4】
FIB は復旧し、通常運用に戻りました。

集束イオンビーム試料加工装置　FIBは制御用のPC故障により修理交換部品の手配が出来るまで利用を休止します。

■2011年12月16日　ToF-SIMS故障のお知らせ

【追加2012年1月4】
ToF-SIMS は復旧し、通常運用に戻りました。

飛行時間型二次イオン質量分析装置　ToF-SIMSはステージコントローラの故障により修理交換部品の手配が出来るまで利用を休止します。

■2011年11月18日　セルフユーザー講習を一時停止する装置について

【追加2012年4月17】
ウルトラミクロトームのセルフユーザー講習を再開します。
講習を一時停止していたすべての機器についてセルフユーザー講習を再開します。ご不便をおかけして申し訳ありませんでした。

【追加2012年3月19】
FE-SEM　S-4500　及び　FIB　JEM-9310のセルフユーザー講習を再開します。
昨年12月より実施していたS-4500およびFIBに対するセルフユーザー講習の停止ですが、現在解除して講習受付を再開しています。ご不便をかけ、申し訳ありませんでした。（ただしウルトラミクロトームについては講習停止を継続しています

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2011年12月15日で停止します。対象装置は以下の3機種です。

1.FE-SEM S-4500
2.FIB JEM-9310FIB
3.ウルトラミクロトーム

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。
尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2012年3月以降を見込んでおります。

■2011年11月17日　XAFSはサービスを終了しました

XAFS　LOOPER2000は分析サービスを終了しました。

■2011年11月7日　分析利用料金を改定しました。【重要】

2011年10月より分析料金が改定となります。詳細は料金表をダウンロードしてご確認下さい。
こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2011年11月7日　電界放射電子銃オージェ分光装置（Auger JAMP-9500F）【重要】

2011年10月より日本電子社の電界放射電子銃オージェ分析装置 (Auger JAMP-9500F)の運用を開始しました。

本年度は試験運用として、依頼分析のみで運用予定です。（分析料金は料金表をご覧下さい。）皆様のご利用をお待ちしております。

オージェ電子分光法とは固体の極表面（～50 nm程度)に含まれる元素の種類、濃度、化学結合状態などの情報が得らる分析法です。

JAMP-9500Fの特徴
　深さ方向分析：付属のイオンガンで表面をエッチングすることで深さ方向の分析が
　　　　　　　　できます。
　面　分　析　：ショットキー型フィールドエミッション銃を採用しているので
　　　　　　　　極微小領域の分析や高倍率での面分析ができます。
　絶縁体分析　：最大傾斜角90度の試料フォルダを使用することで絶縁体の分析が
　　　　　　　　できます。

装置の詳しい諸元はこちらをご覧ください。

■2011年8月22日　センター夏季休止後の装置運用状況

【追加2011年9月5】
センターの各種装置はほぼ通常通り運用されています。

メンテナンス及び停止中の装置については通常運用へ戻すべく作業を行っております。詳細についてはセンターまでお問い合わせください。

■2011年8月3日　GD-OES 故障のお知らせ

【追加2011年8月25】
GD-OES は復旧し、通常運用に戻りました。

【追加2011年8月25】
メーカーより部品が納入され、現在調整中
なお、深さ方向の元素分析につきましてはTOF-SIMSを用いて依頼分析で対応しております。詳しくは内線3648までお問い合わせ下さい。

グロー放電発光分析装置GD-OES JY-5000RFは修理交換部品の手配が出来るまで利用を休止します。

■2011年7月20日　TEM　H-7650故障のお知らせ

【追加2011年7月26】
H-7650 は復旧し、通常運用に戻りました。メーカーによる修理が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

H-7650はステージ不具合のため、メーカーによる修理が必要となり利用を休止します。
ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2011年6月27日　節電による夏期サービス休止のお知らせ

大学の節電指針に従い、2011年8月8日（月）から2011年8月19日（金）の期間依頼分析・セルフ利用を含むすべての装置と業務を停止します。
ご不便をおかけしますが、ご理解のほど宜しくお願いいたします。

※期間中大岡山地区全学停電（8/11,12）もあるため、装置の復旧に関してもホームページ上でお知らせしますのでご注意ください。

■2011年5月23日　D8 DISCOVER 故障のお知らせ

【追加2011年6月8】
D8　DISCOVER は復旧し、通常運用に戻りました。メーカーによる修理が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

D8 DISCOVERは強度低下のため、メーカーによる装置状況の確認が必要となり利用を休止します。
ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2011年5月11日　ICP-OES 故障のお知らせ

【追加2011年5月23】
ICP-OES は復旧し、通常運用に戻りました。メーカーによる修理が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

ICP-OES　Prodigy は電源トラブルのため利用を休止します。
ご不便をかけまして申し訳ありません。サービス再開は5月23日を予定しております。

■2011年5月11日　GD-OES 故障のお知らせ

【追加2011年5月19】
GD-OES は復旧し、通常運用に戻りました。グロー放電発光分析装置GD-OES JY-5000RFは修理交換が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

なお設置場所が変わりましたので、しばらく使っていないユーザーは必ず運用方法の確認を行って下さい。ご協力の程、宜しくお願いいたします。

グロー放電発光分析装置GD-OES JY-5000RFは修理交換部品の手配が出来るまで利用を休止します。なお、深さ方向の元素分析につきましてはTOF-SIMSを用いて依頼分析で対応しております。詳しくは内線3648までお問い合わせ下さい。

ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2011年5月10日　EPMA 故障のお知らせ

【追加2011年6月8】
EPMA は復旧し、通常運用に戻りました。修理が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

【追加2011年5月30】
EPMA はコントロール用コンピュータに別の不具合がみつかり、利用を休止します。
ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

【追加2011年5月27】
EPMA は復旧し、通常運用に戻りました。修理が終了し、通常通り利用出来るようになりました。

電子プローブマイクロアナライザーEPMA　JXA-8200はコントロール用コンピュータのトラブルのため利用を休止します。
ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2011年4月18日　RAMAN 故障のお知らせ

【追加2011年5月23】
RAMANは復旧し、通常運用に戻りました。メーカーによる修理が終了し、5月30日より通常通り利用出来るようになりました。

RAMAN分光装置 NRS-2100は試料ステージの経年劣化により、試料高さ位置を保持できない状況にあります。これにより、長時間の測定においてはレーザの焦点がずれてしまい、十分なラマン散乱光が得られなくなる症状が発生したため、業者に修理依頼を出しています。

ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2011年4月6日　FE-SEM S4500は故障のためセルフ使用を停止します。

【追加2011年4月18】
S4500は運用を再開し、通常運用に戻りました。S4500御利用の皆様には装置復旧が長引き大変ご迷惑をかけまして申し訳ありませんでした。

【追加2011年4月15】
S4500御利用の皆様には装置復旧が長引き大変ご迷惑をかけております。現在、メーカーとも修理内容等を協議しつつ早期の運用再開を目指しています。なお、お急ぎの方はS4700で対応いたしますので、soudan メール　までお問い合わせください。
お手数をかけまして誠に申し訳ありませんが宜しくお願いいたします。

S4500は画像取込用のPCが故障しました。メーカーによる修理が必要となり、現在手配中です。復旧次第ホームページ上で御連絡します。ご不便をかけて誠に申し訳ありません。

ご不明の事がありましたら、内線2157までお問い合わせください。

■2011年4月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2011年4月より分析料金が改定となります。
詳細は料金表をダウンロードしてご確認ください。

こちらのページより必要な書類を入手してください。

■2011年4月1日　センター名称変更

2011年4月1日より、「分析支援センター（大岡山）」は名称を
「大岡山分析支援センター」
に変更しました。

 2010年度

■2011年3月24日　分析支援センター（大岡山）の運用状況

故障中の装置については通常運用へ戻すべく作業を行っております。詳細についてはセンターまでお問い合わせください。

【11年6月8日】D8 DISCOVERは修理が終了し通常運用に戻りました。
【11年6月8日】EPMAは修理が終了し通常運用に戻りました。
【11年5月30日】EPMAは不具合が見つかり要修理となりました。
【11年5月26日】ラマンは通常運用に戻りました。
【11年5月26日】μ-プローブEDXは復旧しました。
【11年5月23日】D8 DISCOVERは不具合が見つかり要修理となりました。

故障中の装置については通常運用へ戻すべく作業を行っております。詳細についてはセンターまでお問い合わせください。

状　況
※X線
　X'Pert - MPD - OEC　○
　X'Pert - Pro - MRD　○
　D8 DISCOVER　○
　μ-probe EDX　○
　解析ソフト　○
　JCPDS - ICDD ICSD 検索　○

※元素・分光ICP - OES　○
　ICP - MS　○
　CHN　○
　GD - OES　○
　RAMAN　○
　FT - IR　○
　TOF - SIMS　○

※電子顕微鏡　FE-TEM 2010F　○
　TEM JEM-1010BS　○
　TEM H-7650　○
　FE-SEM S4500　○
　FE-SEM S4700　○
　E-SEM　○
　FIB 9310　○
　EPMA　○
　レーザー顕微鏡　○
　SPM - 9600　○
　ウルトラミクロトーム　○
　真空蒸着器JEE-420T　○
　スパッタコーター　○

　機械系分析室SEM関係　○

○：通常運用しています。

■2011年3月22日　分析支援センター（大岡山）の運用状況

現在センターのほぼすべての装置を停止し運用可能か調査をしています。
依頼・セルフを含め、装置の運用方針の決定は　3月23日（水）　を予定しています。

※X線
　X'Pert - MPD - OEC
　X'Pert - Pro - MRD
　D8 DISCOVER
　μ-probe EDX
　解析ソフト
　JCPDS - ICDD ICSD 検索

※元素・分光
　ICP - OES
　ICP - MS
　CHN
　GD - OES
　RAMAN
　FT - IR
　TOF - SIMS

※電子顕微鏡
　FE-TEM 2010F
　TEM JEM-1010BS
　TEM H-7650
　FE-SEM S4500
　FE-SEM S4700
　E-SEM
　FIB 9310
　EPMA○
　レーザー顕微鏡
　SPM - 9600
　試料作製機器
　　ウルトラミクロトーム
　　真空蒸着器JEE-420T
　　スパッタコーター

　機械系分析室SEM関係

■2011年2月28日　FE-SEM S4500は故障のためセルフ使用を停止します。

【追加2011年3月10】
ロータリーポンプの交換が終了し、使用可能になりました。

S4500のロータリーポンプよりオイル漏れが発生し、いくつか対策を講じましたが改善せず、ポンプの交換が必要となりました。
ご迷惑をかけますが、3月1日からロータリーポンプの交換が終わるまでS4500のセルフ使用を
停止いたします。復旧次第ホームページ上で御連絡いたします。

ご不便をかけて誠に申し訳ありませんが、ご理解のほど宜しくお願いいたします。ご不明のことがありましたら内線2157までお問い合わせ下さい。

■2011年2月9日　新規分析装置の導入及び環境整備工事に伴う装置使用停止について

現在分析支援センター（大岡山）では新たに導入する分析装置の設置と、分析室の環境整備工事（給排気換気設備）を進めています。そのため近辺および関連する分析装置を停止させることがあります。

御利用の皆様には大変ご不便をかけますが、よろしくご理解のほどお願い申し上げます。セルフユーザーに開放している装置の開放状況に関しては予約システムでご確認ください。宜しくお願いいたします。

なお、ご不明の点などありましたら内線2157までお問い合わせ下さい。

■2011年2月4日　走査型プローブ顕微鏡（SPM)の導入

島津製作所の走査型プローブ顕微鏡　SPM-9600　の運用を開始しました。

本装置は個体試料表面の凹凸情報をnmオーダーで測定することが可能です。なお、セルフユーザー利用のみでの運用です。（分析料金は料金表をご覧下さい。）皆様のご利用をお待ちしております。

■2010年12月20日　セルフユーザーの予約システムは年末年始停止します。

予約システムを年末年始の下記の期間停止します。

2010年12月28日　17：00　～　2011年1月4日　10：00

■2010年12月15日　セルフユーザー講習を一時停止する装置について

【追加2011年4月4】
昨年12月より実施していた一部装置に対するセルフユーザー講習の停止ですが、現在解除して講習受付を再開しています。

ご不便をかけ、申し訳ありませんでした。（ただしS4500については現在修理中）

一部の装置について今年度のセルフユーザー講習を2010年12月15日より停止します。対象装置は以下の２機種です。

1.FE-SEM S-4500
2.ウルトラミクロトーム

現在、繁忙期を迎えており、人的にも物的にも講習とその後のサポートに割く時間がございません。御利用を検討されていた方には、大変な御不便をおかけしますが、御理解下さいますよう、宜しくお願い申し上げます。

尚、なるべく早期の再開を目指しておりますが、例年の傾向から2011年3月以降を見込んでおります。

■2010年12月2日　WDX (WDXRF)はサービスを終了しました

WDX(WDXRF)は分析サービスを終了しました。

■2010年12月13日　D8 DISCOVER 故障のお知らせ

【追加2011年4月4】
D8 DISCOVERは修理が終了し、使用可能になりました。12月13日からサービスを再開しています。

D8 DISCOVER　は排気系トラブルのため、利用を休止いたします。ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2010年11月26日　μプローブEDS EAGLE 故障のお知らせ

【追加2011年1月4】
μプローブEDS EAGLEは修理が終了し、使用可能になりました。1月4日からサービスを再開しています。

μプローブEDS EAGLEはトラブルのため、利用を休止いたします。ご不便をかけまして申し訳ありません。修理が終了次第サービスを再開します。

■2010年9月7日　XAFS（R-XAS Looper）故障のお知らせ

XAFSは排気系トラブルのため、利用を休止いたします。ご不便をかけまして申し訳ありません。

■2010年8月16日　分析装置のセルフユーザー向け予約システム

2010年8月16日より分析装置の予約システム(CAMA_rs10)をリリースしました。

分析支援センター（大岡山）でセルフユーザー利用できる以下の装置について予約システムを導入しました。利用可能な装置は以下の通りです。

　X線　：　MPD, MRD, DISCOVER
　元素・分光　：　ICP-OES, ICP-MS, GD-OES, CHN, RAMAN, FT-IR
　電子顕微鏡　：　S4500, H7650, EPMA, FIB, ウルトラミクロトーム

　　※上記以外でセルフ利用ができる装置については現行の方法で予約してください。

利用の方法は以下にも示しますが、予約システムの最初の画面にも記載があります。

■予約方法
使用したい装置名を選択し、表紙画面を表示します。
予約作業（利用・取消）をする場合は表紙画面から「予約」ボタンを押して予約画面に進んでください。
利用する場合は下記の予約方法へ、予約を取り消す場合は下記の予約取消方法をお読み下さい。

　注意：
　　作業が終了した場合、または途中で作業を止める場合はかならず「ログアウト」ボタン
　　を押して最初の画面に戻ってください。ブラウザの「戻るボタン」は使用できません。
　　前の画面に戻る場合は画面内の戻る」ボタンを使って前の画面に戻ってください。
　　接続できるユーザーに限りがあります。作業終了後速やかにログアウトしてください。

操作中問題が発生したら速やかにセンター（内線2157）まで連絡をください

　■予約方法
　発行された6桁のユーザーIDを予約したいコマのuserID欄に入力し、同一行の「予約」
　ボタンを押します。
　（利用条件など入力する場合は、画面の指示に従って作業してください。）
　送信画面に進み、入力した内容でよければ「送信」ボタンを押してください。
　センターへ予約申請のメールが送信されます。
　この時点では予約は確定していません(※S4500を除く)。
　内容に問題がなければ、センターからユーザーと責任教員に使用許可のメールが送信され
　予約が確定します。

　■予約取消方法
　ユーザーIDを予約作業をしたコマのuserID欄に入力し、同一行の「取消」ボタンを
　押します。
　送信画面になり、予約取消する場合は「取消送信」ボタンを押してください。
　センターとユーザーへ予約取消確認のメールが送信されます。

■2010年4月5日　TOF-SIMSの新規導入について【重要】

2010年4月よりION-TOF社の

　TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)

を導入しました。
本装置は試料表面の有機物、無機物の定性分析や試料の深さ方向の組成分析を行うことが可能です。

本年度は試験運用として、依頼分析のみで運用予定です。（分析料金は料金表をご覧下さい。）皆様のご利用をお待ちしております。

■2010年4月1日　新規導入X線装置について【重要】

高輝度X線源と2次元検出器を搭載した短時間で微小領域の測定ができる装置

　微小部X線回折装置 (D8 DISCOVER μHR)

皆様のご利用をお待ちしております。
測定例はこちら（PDF形式）からダウンロードできます。

■2010年4月1日　セルフユーザー講習の実施制限解除【重要】

昨年11月末より実施していた一部装置に対するセルフユーザー講習の停止ですが、現在解除して講習受付を再開しています。ご不便をかけ、申し訳ありませんでした。

■2010年4月1日　透過型電子顕微鏡の新規導入【重要】

昨年10月をもって運用を停止した透過電子顕微鏡 JEM-200CX に代わり、

　日本電子 JEM-1010BS

および

　日立 H-7650

の2台の TEM を導入いたしました。
どちらも低加速電圧・高コントラスト観察を得意とする、有機・高分子材料に適した装置です。さらに H-7650 においては、3次元観察が可能となります。

JEM-1010BS は依頼専用、H-7650 はセルフユーザー用として運用をおこなってまいります。皆様のご利用をお待ちしております。

■2010年4月1日　分析利用料金を改定しました【重要】

2010年4月より分析料金が改定となります。
詳細は料金表をダウンロードしてご確認ください。

こちらのページより必要な書類を入手してください。