偏光顕微鏡 BX50（オリンパス社）
仕様 

観察方法： 透過法

取得画像： オルソスコープ像、コノスコープ像
特殊測定： レターデーション測定（ベレックコンペンセーターまたはセナルモンコンペンセーター使用）
対物レンズ： x1.25、x4、x10、x20、x50
試料ステージ： 手動（360°回転、試料XYステージ付）
画像取得： CCDカメラからPC接続（オリンパスcellSensソフトウエア）
測定温度： 室温～400 ℃（メトラー社ホットステージFP82HT使用）
測定可能なサンプル： 有機・無機・高分子・液晶、コロイドなどの各種材料
 

装置について　
多くの有機/無機結晶や高分子材料、各種薄膜材料において、配向異方性が材料の光学特性や電気特性に影響を与えます。これらの物質材料における分子や結晶格子の配向などを迅速に評価する手法として、偏光顕微鏡観察が知られています。当部門で管理する偏光顕微鏡（BX50）は、様々な材料についての透過像（オルソスコープ像）やコノスコープ像の取得および各種コンペンセーターを用いたレターデーション測定による定量的な配向評価ができる装置です。得られた画像は画像処理ソフトウエアにより詳細な解析が可能です。加えて、ホットステージを用いた加熱冷却を伴う観察により、物質の相転移挙動をリアルタイムに観察し、その動画を取得することも可能です。
これらの観察により、様々な材料や分子の配向に関する情報を提供します。