原子間力顕微鏡 MultiMode 8（ブルカー社）

仕様  測定機能： コンタクトモード、タッピングモード、PeakForce Tapping、位相イメージング、LFM、                  フォースカーブ、フォースボリューム、STM、機械特性（PeakForce QNM） 測定範囲（スキャナ）： XY: 125 µm, Z: 5.0 µm; XY: 10 µm, Z: 2.5 µm CCDカメラ： 5メガピクセルデジタルCCD アタッチメント： STM測定ユニット 測定温度： 室温 測定可能なサンプル： 有機薄膜・無機薄膜・高分子フィルム・液晶など（液体は不可） 測定サンプルの大きさ： 直径15 mm 以下、厚み5 mm以下   装置について　 近年、ナノテクノロジーを駆使して、半導体材料や高分子薄膜材料などの分野で新しい物質が作られています。ナノメートルオーダーからマイクロメートルオーダーの構造を有するこれらの物質の表面形状や機械特性、電気特性などを評価する手法として、原子間力顕微鏡（AFM）が知られています。当部門で管理するAFM（MultiMode 8）は、これらの物質の原子レベルから分子レベル、凝集・集合体までの構造や各種物性を評価できる装置です。 本装置の特徴として、（１）高速かつ高分解能な画像取得、（２）ScanAsystによるシンプルな操作、（３）PeakForce QNMを用いた高分解能かつ高速な定量的ナノ機械特性のマッピング、（４）極めて柔らかい物質（～1 kPa）から硬い金属（100 GPa）までの試料に対応、（５）STMによる電気特性の評価が挙げられます。得られたデータは、解析ソフトウエアにより詳細な解析が可能です。 これらの測定により、様々な材料の表面形状や各種物性を明らかにします。