試料水平型多目的Ｘ線回折装置 Ultima IV(（株）リガク）　
仕様 

【X線発生部】

出力： 1.6kW（40kV-40mA)

ターゲット： Cu(封入管式)

【ゴニオメーター部】

ゴニオメーター半径： 285mm

試料台： 標準試料台

測定範囲： 2θ=3°～150°

試料ホルダー： ガラスホルダー、Si無反射試料ホルダー、ブロック試料ホルダー

【光学系部】

入射光学系： 選択スリット(Bragg Brentano集中法)、入射スリット、ソーラースリット、
                    発散制限スリット

受光光学系： 散乱スリット、ソーラースリット、受光スリット

【検出器】

シンチレーションカウンター（固定モノクロメータ）

【Software】

PDXL（ICDD-PDF4使用）  
 

装置について　
粉末の結晶試料にX線を照射し、回折データを収集する粉末X線回折装置です。回折データを結晶データベースと比較することにより、試料を構成する化合物の種類や結晶相の種類などの定性分析を行うことができます。また、回折データからは、格子定数、結晶子サイズ、結晶化度などの情報を得ることが可能です。これらから、目的物質が合成できたかどうかを容易に確認することもできます。Rietveld法を使用すれば、原子位置、熱振動パラメータ、サイト占有率などの精密構造解析も可能です。
また、この装置は、粉末だけではなくペレット、焼結体など、様々な形状のサンプルの測定ができます。