原子間力顕微鏡 (AFM)   

 

装置名称 原子間力顕微鏡 (AFM)
メーカー名 ブルカージャパン（株）
型番 MultiMode 8
用途 表面形状観察および機械・電気特性等の評価
仕様

・コントローラ：NanoscopeV

・スキャン範囲：125 x 125 μm2 , 10 x 10 μm2 , 0.4 x 0.4 µm2
・試料サイズ：高さ5 mm 以内, 水平方向Φ10 mm程度以内
・測定モード：コンタクト, タッピング , PeakForceタッピング,

フォースカーブ、フォースボリューム , PeakForce QNM , STM , PFM ,

MFM , LFM他

・温度範囲：‒35～250 °C
・除振台：アクティブ , パッシブ
・液中試料ホルダ
・画像取得： CCDカメラからPC接続
・測定温度： 室温
・測定可能なサンプル： 有機薄膜・無機薄膜・高分子フィルム・

液中で組織化した物質など