TCカレッジでは、株式会社日立ハイテク様のご協力の下、令和5年11月14日（火）に令和5年度セミナー（技術・研究支援概論）第3回講演会をオンラインで開催いたします。
TCカレッジの協力機器・機械メーカーの研究者・技術者の方々が進められている最新研究や特徴的な取り組みについて、企画立案、遂行中に起こった技術的な課題、解決への工夫など、実践的な内容を講演していただくことで、研究・技術支援活動の参考となる情報や研究遂行に対する考え方などを広く学びます。
電子顕微鏡や走査プローブ顕微鏡は高い観察能力を有することから、産業から研究現場に至る幅広い分野で使用されています。近年はインフォマティクスを中心とした大量データの取得必要性などを背景に、それを支える自動データ取得や、実際に材料が使用されるのに近い環境下でのデータ取得など、電子顕微鏡などのイメージング装置にも観察能力以外の機能が求められつつあります。
株式会社日立ハイテクでは、これらのユーザー要望を踏まえた「大量データの自動取得」「異なる装置間での相関観察/分析」「環境制御/ダイナミック観察」などの技術に取り組まれています。
本セミナー講演会では、電子顕微鏡や走査プローブ顕微鏡及び試料前処理装置において、上記を実現する技術及び活用事例について紹介していただきます。
本講演が、研究開発を支える皆様のご発展の参考になれば幸いです。
2023年11月14日（火） 9：00～10：30
オンライン開催（Zoom）
無料
事前申込ページよりお申し込みください（外部サイト（Zoom）へ移動します）
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