物質分析系

【中級】

A201. 講義名：質量分析【MS 概要】

概要：質量分析の基本的な原理および各種質量分析装置の特徴・用途を理解し、基本的な操作技術を習得する。また、機器不具合にも対応できる技術も学ぶ。（A201は4つすべて受講して1単位）

A201. 講義名：質量分析【ESI】

概要：エレクトロスプレーイオン化法の基本的な原理および各種質量分析装置の特徴・用途を理解し、基本的な操作技術を習得する。また、機器不具合にも対応できる技術も学ぶ。（A201は4つすべて受講して1単位）

A201. 講義名：質量分析【MALDI】

概要：MALDI法の基本的な原理および各種質量分析装置の特徴・用途を理解し、基本的な操作技術を習得する。また、機器不具合にも対応できる技術も学ぶ。（A201は4つすべて受講して1単位）

A201. 講義名：質量分析【EI】

概要：エレクトロンイオン化法の基本的な原理および各種質量分析装置の特徴・用途を理解し、基本的な操作技術を習得する。また、機器不具合にも対応できる技術も学ぶ。（A201は4つすべて受講して1単位）

A202. 講義名：分光法【UV】

概要：UV、IR 等可視光や電磁波の放出または吸収によるスペクトルの取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。（A202は4つすべて受講して1単位）

A202. 講義名：分光法【IR】

A202. 講義名：分光法【蛍光】

概要：レーザーや可視光の励起による蛍光または燐光のスペクトルの取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。（A202は4つすべて受講して1単位）

A202. 講義名：分光法【ラマン】

概要：レーザーの励起によるラマン散乱の原理を学び、スペクトルの取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。（A202は4つすべて受講して1単位）

A204. 講義名：X線回折【小角】

概要：小角 X 線散乱測定の基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。中級カリキュラムでは、座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。

A204. 講義名：X線回折【粉末】

概要：粉末資料におけるX線回折の基本的な原理を理解し、スペクトル取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。

A204. 講義名：X線回折【薄膜】

概要：薄膜X線回折測定の基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。中級カリキュラムでは、座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。

A204. 講義名：X線回折【単結晶】

概要：得られた X 線データから構想式の取得までの実際の処理を学ぶとともに、得られた構造結果の評価や論文掲載に必要な処理等を学ぶ。また、構造が得られなかった際の処理方法などより具体出来な解析方法の習得を目的とする。

A208. 講義名：透過電子顕微鏡【TEM】

概要：透過電子顕微鏡の基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。中級カリキュラムでは、座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。

A209. 講義名：磁気共鳴【NMR】_1

概要：核磁気共鳴の基本的な原理を理解するとともに、各ユニットの役割を理解する。

A209. 講義名：磁気共鳴【NMR】_2

概要：低分子化合物を用いた測定を通じてスペクトル取得方法の習得とともに最適な条件等を得るためのパラメータを理解する。また構造解析に求められる測定手法を紹介。

A209. 講義名：磁気共鳴【NMR】_3

概要：得られたNMRスペクトルよりNMRデータの処理方法や解析法を学ぶ。

A209. 講義名：磁気共鳴【ESR】

概要：電子スピン共鳴の基本的な原理を理解するとともに、各ユニットの役割を理解する。ラジカル化合物を用いた測定を通じてスペクトル取得方法の習得とともに最適な条件等を得るためのパラメータを理解する。

A213. 講義名：研究室見学

概要：研究室を訪問し、その分野の最先端の研究に触れることで研究者が求めている技術や必要とするスキルを知る。

A214. 講義名：表面分析【SPM】

概要：走査電子顕微鏡の基本的な機能ある焦点・非点・明るさ・コントラストについて理解し、適切な操作方法および指導方法を習得する。

A214. 講義名：表面分析【XPS】

概要：X線照射による光電効果を理解するとともにXPSの原理を学び、スペクトルの取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。

【上級】

A301. 講義名：質量分析【MS】

概要：中級で得られた知識と研究室より生成された試料を測定しスペクトルを習得、得られた結果を元に論文投稿に必要となる質量分析法の解析方法を学ぶ。

A302. 講義名：X線回折【小角】

概要：小角X線散乱測定に関する様々な特殊測定や研究への関与についてなど、高度な技術や知識について、実機を用いた操作（実践）を通じて学ぶ。各技術者が研究者との共同研究にも積極的に参画し、小角X線散乱分野において研究者をリードする人材を養成する。

A304. 講義名：走査プローブ顕微鏡【SPM】

概要：形状像以外の測定方法や、測定資料に応じた前処理法などを習得する。またそれら測定の際に生じる特徴的症状や対応を紹介し、SPM 測定の新たな知見を得る。

A305. 講義名：核磁気共鳴【固体】

概要：固体試料における核磁気共鳴装置の影響を学び、固体試料の測定原理、測定方法を習得する。溶液試料とは異なり固体試料は相互作用が強く働くため、その対処法や解析の基礎を学ぶ。

A306. 講義名：核磁気共鳴【二次元】

概要：中級で紹介した構造解析法の続きとなる。有機低分子試料を対象とし、水素核、炭素核による2次元測定（HSQC,HMBC）を学びそれぞれの測定から分子の平面構造の取得まで一連の手法を学ぶ。

A310. 講義名：X線回折【粉末】

概要：中級で得られた知識と研究室より生成された試料を測定しスペクトルを習得、得られた結果を元に論文投稿に必要となる解析方法を学ぶ。

A311. 講義名：X線回折【薄膜】

概要：薄膜X線回折測定に関する様々な特殊測定や研究への関与についてなど、高度な技術や知識について、実機を用いた操作（実践）を通じて学ぶ。各技術者が研究者との共同研究にも積極的に参画し、熱分析において研究者をリードする人材を養成する。

A312. 講義名：X線回折【単結晶】

概要：得られたX線データから構想式の取得までの実際の処理を学ぶとともに、得られた構造結果の評価や論文掲載に必要な処理等を学ぶ。また、構造が得られなかった際の処理方法などより具体出来な解析方法の習得を目的とする。