【2-1. 中級】
2-1-1. 講義名：質量分析（MS概要，ESI，MALDI，EI）
概要：質量分析の基本的な原理を理解し、各種質量分析装置（LC-MS、GC-MS、MALDI-TOF-MS）について、適切なオペレーションおよび解析、多様な試料の調製と応用測定を含む広い知識を習得する。また、機器不具合にも対応できる技術を習得する。
2-1-2. 講義名：X線回折（小角）
概要：小角X線散乱測定の基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。中級カリキュラムでは、座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。
2-1-3. 講義名：分光法（UV，IR，蛍光/ラマン，XPS）
概要：UV、IR等可視光や電磁波の放出または吸収によるスペクトルの取得方法を学ぶ。合わせて最適な測定条件等を得るためのパラメータを理解する。
2-1-4. 講義名：熱分析1（DSC）
概要：これまで熱分析を扱っていない技術者や学び直しの機会を求める者に対して、DSCの基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。これらのカリキュラムでは座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。
2-1-5. 講義名：熱分析2（TG/TDA）
概要：これまで熱分析を扱っていない技術者や学び直しの機会を求める者に対して、TG/DTAの基礎的な原理から、各種測定法の説明、実際の操作までを学ぶことを目的とする。これらのカリキュラムでは座学と実機を使った操作を共に学ぶことにより、通常の依頼業務や分析相談などに対応できる人材を養成する。
2-1-6. 講義名：結晶構造特論
概要：結晶構造の解析法の概略、結晶を構成する分子間相互作用、分子性結晶に関連する物性、結晶構造、反応性などについて解説する。特に、結晶中での動的な挙動である、結晶相反応について専門的に取り上げて説明する。
2-1-7. 講義名：機器メーカー見学
概要：機器メーカーのラボ・工場等を訪問し最新の設備を学ぶとともに、メーカーの技術力を直接感じ、また本見学から専門的かつ詳細な知識を得る。
2-1-8. 講義名：走査プローブ顕微鏡（SPM）
概要：走査プローブ顕微鏡の基本的な原理を理解するとともにカンチレバーと呼ばれる探針を取り付け、形状像取得までを学ぶ。高分解能とされる高さ情報の他、位相像から物質の硬度情報取得など様々なアプリケーションを学ぶ。
2-1-9. 講義名：X線回折（単結晶）
概要：単結晶X線構造回折の基本的な原理を理解する。測定より得られた回折像から構造式までの一連の測定を習得するとともにデータから最良の結晶マウントに必要な知識を習得する。
2-1-10. 講義名：材料機器分析特論
概要：いろいろな材料に対しての評価・分析用として現在、数多くの分析機器が用いられている。本講義では材料研究において用いられている分析機器のうち、汎用的に使用されてかつ重要な先端分析機器について、その原理から最新の測定例を含めた応用に関する講義を行い、その知識を身に着けることをねらいとしている。
2-1-11. 講義名：研究室見学
概要：大学の研究室を訪問し、その分野の最先端の研究に触れることで研究者が求めている技術や必要とするスキルを知る。
2-1-12. 講義名：技術･研究支援概論1
概要：セミナー形式によるメーカー研究者・開発者の技術紹介や開発秘話などを受講。普段知りえない苦労話や製品化するまでの経緯などを聴講し、自身の研究や業務と合わせ問題解決のスキルを養う。
2-1-13. 講義名：技術･研究支援発表会，TCカレッジシンポジウム
概要：TCカレッジ受講生が自身の業務紹介や研究支援内容を口頭で発表し、受講生間で情報共有するとともに、発表スキルの向上を目指す。シンポジウムの運営に携わり、今後のイベント開催等の参考にする。（1年目の受講カリキュラム）
2-1-14. 講義名：中古機器バラシキャラバン隊
概要：廃棄予定の設備を分解し内部まで観察し、その技術に直接触れることで装置を深く理解する。
2-1-15. 講義名：装置実習（物質分析(バイオ･構造解析･材料評価)、設計製作、マイクロプロセス）
概要：TCカレッジの各コースで習得または実践する設備等について、各コース担当の紹介の後、実際に実習する。
【2-2. 上級】
2-2-1. 講義名：質量分析（MS）
概要：中級で得られた知識と研究室より生成された試料を測定しスペクトルを習得、得られた結果を元に論文投稿に必要となる質量分析法の解析方法を学ぶ。
2-2-2. 講義名：X線回折（小角）
概要：小角X線散乱測定に関する様々な特殊測定や研究への関与についてなど、高度な技術や知識について、実機を用いた操作（実践）を通じて学ぶ。各技術者が研究者との共同研究にも積極的に参画し、小角X線散乱分野において研究者をリードする人材を養成する。
2-2-3. 講義名：熱分析応用
概要：熱分析に関する様々な特殊測定や研究への関与についてなど、高度な技術や知識について、実機を用いた操作（実践）を通じて学ぶ。各技術者が研究者との共同研究にも積極的に参画し、熱分析に関する研究において研究者をリードする人材を養成する。
2-2-4. 講義名：超分子科学特論
概要：超分子構造体の設計において重要な種々の「分子間相互作用」や「その解析法」など、超分子化学の基礎を学ぶ。また発展的な内容として、イオンや分子の認識に関する「ホスト-ゲスト化学」および「超分子材料の設計」について理解を深める。
2-2-5. 講義名：走査プローブ顕微鏡（AFM）
概要：形状像以外の測定方法や、測定資料に応じた前処理法などを習得する。またそれら測定の際に生じる特徴的症状や対応を紹介し、SPM測定の新たな知見を得る。
2-2-6. 講義名：X線回折（単結晶）
概要：得られたX線データから構想式の取得までの実際の処理を学ぶとともに、得られた構造結果の評価や論文掲載に必要な処理等を学ぶ。また、構造が得られなかった際の処理方法などより具体出来な解析方法の習得を目的とする。
2-2-7. 講義名：技術･研究支援概論2
概要：セミナー形式による教員の研究紹介や研究秘話などを受講する。研究の組み立て方や社会の動向などを聴講し、自身の研究や業務と合わせ問題解決のスキルを養う。
2-2-8. 講義名：技術･研究支援発表会，イベント企画･運営
概要：1年目のTCカレッジ受講生の業務紹介や研究支援内容の口頭発表を聴講し、受講生間で情報共有するとともに、発表に対するコメント等を与え、自身の発表スキルの向上を目指す。シンポジウムの運営に携わり、今後のイベント開催等の参考にする。（2年目の受講カリキュラム）
2-2-9. 講義名：物質分析講究
概要：物質分析に必要な知識や技術に関するテーマについて、それぞれが発表し、受講生同士での理解および習得を目指す。研究や試料ごとにそのノウハウが異なるが、より広い知識や技術の習得を目標とする。
2-2-10. 講義名：研究室体験
概要：協力いただける研究室への短期間の研究室体験を通じて、研究者の目的をより深く学ぶ。なぜその試料を作成するのか、なぜその測定を必要とするかなど研究の原点を理解することでより研究者・学生との距離を身近なものとする。
2-2-11. 講義名：メーカー短期留学
概要：協力いただけるメーカーへの短期間の留学を通じて、企業研究をより深く学ぶとともに、研究者・技術者などとの距離を身近なものとする。
© 2021 Tokyo Institute of Technology. All rights reserved.