依頼分析
利用上の注意
【以下をご理解の上でお申し込みください】
- 依頼分析は東京工業大学に所属する方のみ利用可能です。
- 統合設備共用システム「以降統合システム」でユーザ登録行ったうえで、統合システムの予約からお申し込みください。
- かならず本学予算詳細責任者の許可を得て、予算が決まってからお申し込みください。
- 詳しい支払内容は右記メニューより「利用料金」をご確認ください。
- 当部門の利用で得られた結果を用いた発表等にはOFC分析部門の利用を明記し、発表情報を当部門に報告することをお願いします。
・統合設備共用システムホームページ
・分析部門（大岡山）利用簡易マニュアル
お申し込みの流れ
| １．申込書の作成 | ご依頼内容に対応する装置の申込書をダウンロードし、必要事項をご記入ください。分析手法選定について相談ご希望の方は「お問い合わせ」からご連絡ください。 |
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| ２．お申し込み | 予算が決まりましたら、統合システムHPの「予約」より統合システムにログインし、予約管理 ＞ 業務依頼 ＞ 業務依頼基本情報登録 と進み、設備名称「Inquiry Counter-MA_O-OFC」を選択し、必要事項を入力して申込書を添付して送信してください。 続いて、予約管理 ＞ 業務依頼 ＞ 業務依頼予算情報登録 に進み、予算を決定して送信してください。 |
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| ３．お打ち合せ | 担当者からご連絡を差し上げます。 依頼内容や立ち会い日程等について打ち合せをさせていただきます。 |
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| ４．測定・分析 | 職員が分析いたします。 |
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| ５．結果確認 | 測定・分析終了後に担当者から連絡を差し上げます。分析結果をご確認ください。測定・分析データとお預かりしたサンプルをお渡しします。 |
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| ６．お支払い | 月ごとに利用料金を請求いたします。 詳しい支払内容は 利用料金 をご確認ください。 |
依頼分析申込書（※申込書のダウンロードは学内限定です）
| 装置種 | 依頼分析申込書 |
|---|---|
| Ｘ線回折装置 （XRD：MPD、MRD、D8、Mini Flex） エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 （NEX DE） |
X-ray ver 7.2.doc |
| ICP発光・質量分析 （ICP-OES、ICP-MS） |
ICP ver 7.0.docx |
| レーザー顕微ラマン分光光度計 （RAMAN） |
Raman ver 7.2.doc |
| 電界放射型電子銃オージェ分光装置 （FE-Auger） |
Auger ver 7.2.doc |
| 電子プローブマイクロアナライザー （EPMA） |
EPMA ver 7.2.doc |
| 飛行時間型二次イオン質量分析装置 （TOF-SIMS） |
TOF-SIMS ver 7.2.doc |
| 電子顕微鏡および関連装置 （FE-TEM、TEM、FE-SEM、SEM、 FIB、UMT、CP） |
EM ver 7.2.doc |
| 電子顕微鏡試料台 購入申込書 | 試料台 ver 3.0.doc |
| 上記以外の装置についてのご依頼、ご相談 | 「お問い合わせ」よりご連絡ください |