装置一覧｜透過電子顕微鏡(日本電子 TEM,JEM-1400) - リサーチインフラ･マネジメント機構（CFC

コアファシリティセンター分析部門（すずかけ台）は分析設備の利用を受け付けています
TEL: 045-924-5276　〒226-8501　神奈川県横浜市緑区長津田町4259 R1-120室
メールボックス：R1-34

　加速電圧： 80, 100, 120kV
　電子銃：タングステンフィラメント
　分解能：
　格子像：0.2nm, 粒子像：0.38 nm
　CCDカメラ： C4742-95-12ER（浜松ホトニクス）

　原理

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する装置です。

　低倍率から高倍率まで高コントラストで観察できる
　主に有機材料や触媒の観察に利用されている

　R1棟120室　内線：5276
　設置場所　R1-B1棟B7室（6069）
　秋本由佳（akimoto.y.eb7c）

お問い合わせ
Contact us

分析に関する相談は
分析部門（すずかけ台）質問・相談票
を記載の上、下記メールアドレスまで
Email: matanalysis_s
Tel: 5276

学外からご利用いただく場合はこちら
CFC受託外部利用のご案内