オープンファシリティセンター
分析部門(すずかけ台)

オープンファシリティセンター分析部門(すずかけ台)は分析設備の利用を受け付けています  
TEL: 045-924-5276 〒226-8501 神奈川県横浜市緑区長津田町4259 R1-120室  
メールボックス:R1-34  

 

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有機元素分析装置
CHN同時測定装置 (ジェイサイエンス JM10)
O測定装置 (Elementar Vario micro cube)
異種元素 (ハロゲン,S) 同時測定装置 (ヤナコ HSU-20,サーモ ICS-1100)
・ウルトラミクロ天びん
・ミクロ天びん

 

無機元素分析装置
ICP質量分析装置 (パーキンエルマージャパン ELAN-DRC-e)
ICP発光分光分析装置 (島津製作所 ICPS-8100)
・MW試料前処理装置
XRF<EDX>

 

質量分析装置

ESI-TOF-MS (Bruker製 micrOTOFⅡ)
MALDI-TOF-MS (Bruker製 UltrafreXtreme)
Double-focusing MS <GC付属>

 

構造解析装置

試料水平型多目的X線回折装置 (リガク Ultima Ⅳ)
X線回折-示差走査熱量同時測定装置 (リガク XRD-DSC)

 

電子顕微鏡

電界放出型透過電子顕微鏡 (日本電子 FE-TEM,JEM-2100F)
透過電子顕微鏡 (日本電子 TEM,JEM-1400)
複合ビーム加工観察装置 (日本電子 FIB-SEM,JIB-4500)
電界放出型走査電子顕微鏡 (日立ハイテク FE-SEM,S-5500)
走査電子顕微鏡 (日本電子 SEM,JSM-6610LA)
走査電子顕微鏡 (日本電子 JSM-IT100)
ウルトラミクロトーム (ライカ UC6/FC6)
電子顕微鏡前処理装置群

 

熱分析装置

示差熱-熱重量同時測定装置 (島津製作所 TG-DTA,DTG-60)
示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム (リガク ThermoMass Photo)

 

その他分析装置

SEC/光散乱検出器システム <SEC・MALS・RI・DLS>
時間分解吸収分光解析システム (浜松ホトニクス TRASAS)
分光エリプソメーター (日本分光 ELC-300)


お問い合わせ
Contact us
分析に関する相談は
分析部門(すずかけ台)質問・相談票
を記載の上、下記メールアドレスまで
Email: matanalysis_s(@)ofc.titech.ac.jp
Tel: 5276
 

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