オープンファシリティセンター
分析部門(すずかけ台)

オープンファシリティセンター分析部門(すずかけ台)は分析設備の利用を受け付けています  
TEL: 045-924-5276 〒226-8501 神奈川県横浜市緑区長津田町4259 R1-120室  
メールボックス:R1-34  

 

トップページ 装置一覧 利用・課金案内 申込書一覧 メンバー(学内)

 

二重収束型質量分析装置(日本電子 JMS-700)

 

装置仕様

 質量分解能:EIモード60,000以下(10%谷)
 試料導入系:GCDI
 収束レンズ:静電Qポール
 磁場分析部:一様磁場
 電場分析部:円筒電場
 検出部:高感度イオン検出器付き電子倍増管
 イオン源:FABEIFD 


 原理

磁場型単集束の装置ではイオンは強い電場で加速され均一な磁場へ導きます。

磁場の強さを変化させることによりあるイオンだけを検出器に導きマススペクトルを得ます。

加速されたイオンには速度のばらつきがあり、エネルギー収差という広がりを持つため精密質量測定を行うほどの分解能はありません。

この収差を消すために磁場の前に電場を配置したのが二重収束型質量分析計です。

イオン化法

特徴

対象
EI 多数のフラグメントイオンが観察される 無機ガス。分子量800までの一般有機化合物
FAB フラグメントイオンが少ない。EI法では分子イオンが観測できない有機化合物 難揮発性化合物・不安定な化合物
FD フラグメントイオンが非常に少ない分子イオンを観測する。精密質量測定は不可 難揮発性化合物
EIではGCとの組み合わせが可能です。通常はGCと接続していません。

 

この装置を使ってできること
 精密質量測定
 GC-MS測定

 

装置担当者・連絡先

 R1棟119室 内線:5278
 設置場所 R1棟115室
 小泉 公人(koizumi.m.aa(@)m.titech.ac.jp)


お問い合わせ
Contact us
分析に関する相談は
分析部門(すずかけ台)質問・相談票
を記載の上、下記メールアドレスまで
Email: matanalysis_s(@)ofc.titech.ac.jp
Tel: 5276
 

学外からご利用いただく場合はこちら
OFC受託外部利用のご案内

 
関連サイト
 ▷ 東京工業大学
 ▷ オープンファシリティセンター
 ▷ 統合設備共用システム

 ▷ 利用者マニュアル(分析部門すずかけ台)

  日本語  English
 ▷ 装置利用料金(学内限定)
お役立ちリンク
 ▷ 高分子分析の原理・技術と
   装置メーカーリスト