装置一覧｜二重収束型質量分析装置（日本電子 JMS-700） - リサーチインフラ･マネジメント機構（CFC

コアファシリティセンター分析部門（すずかけ台）は分析設備の利用を受け付けています
R1-120, 4259 Nagatsuta-cho, Midori-ku, Yokohama, Kanagawa 226-8501 Japan
Mail Box : R1-34

　質量分解能：EIモード60,000以下（10％谷）
　試料導入系：GC-DI
　収束レンズ：静電Qポール
　磁場分析部：一様磁場
　電場分析部：円筒電場
　検出部：高感度イオン検出器付き電子倍増管
　イオン源：FAB、EI、FD

　原理

磁場型単集束の装置ではイオンは強い電場で加速され均一な磁場へ導きます。

磁場の強さを変化させることによりあるイオンだけを検出器に導きマススペクトルを得ます。

加速されたイオンには速度のばらつきがあり、エネルギー収差という広がりを持つため精密質量測定を行うほどの分解能はありません。

この収差を消すために磁場の前に電場を配置したのが二重収束型質量分析計です。

イオン化法	特徴	対象
EI	多数のフラグメントイオンが観察される	無機ガス。分子量800までの一般有機化合物
FAB	フラグメントイオンが少ない。EI法では分子イオンが観測できない有機化合物	難揮発性化合物・不安定な化合物
FD	フラグメントイオンが非常に少ない分子イオンを観測する。精密質量測定は不可	難揮発性化合物
EIではGCとの組み合わせが可能です。通常はGCと接続していません。