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【SEC】
検出部:示差屈折率計,紫外吸光検出器
使用可能溶媒:クロロホルム
クロロホルム以外の溶媒使用はご遠慮いただいております。
カラム:Shodex LF-804
【多角度光散乱検出器 DAWN-HELEOSⅡ】
レーザー波長:658nm(600~800nm)
検出器:18角度
使用可能溶媒:バッチ測定に限りHPLCに対応可能な全溶媒
【示差屈折率検出器 Optilab T-rEX】
光源波長:658nm
【動的光散乱測定器 Dynapro NanoStar】
レーザー波長:658nm
測定角度:90度
最低サンプル使用量:1μL(石英セル使用時)
光散乱検出器システムは、静的光散乱検出器(SLS)と屈折率計(RI)および動的光散乱検出器(DLS)の3機を備えています。これらをSECと接続することによってSEC-MALS測定が可能です。
また、SEC単独測定や、シリンジポンプによりサンプルを導入して、バッチ測定によるSLSとRIおよびDLSの同時測定が可能です。専用のキュベットを使用してDLS単独バッチ測定ができます。
R1棟119室 内線:5278
設置場所 R1棟516室
富田 香苗(tomita.k.1803)
この装置の学外利用は受け付けておりません。
*SECは化学生命科学研究所(福島研究室)のご厚意により利用させていただいております。
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