装置一覧｜SEC／光散乱検出器システム(TOSOH HLC-8420GPC／WYATT DAWN-HELEOSⅡ・Optilab T-rEX・Dynapro NanoStar) - オープンファシリティセンター Open Facility Center

東京工業大学
オープンファシリティセンター
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SEC／光散乱検出器システム(TOSOH HLC-8420GPC／WYATT DAWN-HELEOSⅡ・Optilab T-rEX・Dynapro NanoStar)

装置仕様

　【SEC】
　検出部：示差屈折率計，紫外吸光検出器
　使用可能溶媒：クロロホルム
　カラム：Shodex LF-804
　【多角度光散乱検出器 DAWN-HELEOSⅡ】
　レーザー波長：658nm（600～800nm）
　検出器：18角度
　使用可能溶媒：HPLCに対応可能な全溶媒
　【示差屈折率検出器 Optilab T-rEX】
　光源波長：658nm
　【動的光散乱測定器 Dynapro NanoStar】
　レーザー波長：658nm
　測定角度：90度
　最低サンプル使用量：1μL（石英セル使用時）

　原理
　光散乱検出器システムは、静的光散乱検出器（SLS）と屈折率計（RI）および動的光散乱検出器（DLS）の3機を備えています。これらをSECと接続することによってSEC-MALS測定が可能です。
　また、SEC単独測定や、シリンジポンプによりサンプルを導入して、バッチ測定によるSLSとRIおよびDLSの同時測定が可能です。専用のキュベットを使用してDLS単独バッチ測定ができます。

この装置を使ってできること

　【SEC】
　分子量分布測定
　【多角度光散乱検出器 DAWN-HELEOSⅡ】
　絶対分子量、分子サイズ分布測定
　分子量測定範囲：10³～10⁹g/mol(ダルトン）
　分子サイズ（回転半径）測定範囲：10～500nm
　【示差屈折率検出器 Optilab T-rEX】
　dn/dc測定
　絶対屈折率測定
　【動的光散乱測定器 Dynapro NanoStar】
　粒子径測定
　測定粒子径範囲（半径）:0.5～1000nm
　サンプル最低濃度：0.1mg/mL（試料による）

装置担当者・連絡先

　R1棟119室　内線：5278
　設置場所　R1棟117室
　富田香苗（tomita.k.af(@)m.titech.ac.jp）

＊SECは化学生命科学研究所（福島研究室）のご好意により利用させていただいております。

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Email: matanalysis_s(@)ofc.titech.ac.jp
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