装置一覧｜電界放出型透過電子顕微鏡(日本電子 FE-TEM,JEM-2100F)

電界放出型透過電子顕微鏡（日本電子 FE-TEM,JEM-2100F）

装置仕様

　加速電圧： 80, 100, 200kV
　電子銃：ショットキータイプ電界放出型電子銃
　分解能（ポールピースHRP）：
　  　格子像：0.1nm, 粒子像：0.23nm, STEM分解能：0.2nm
　CCDカメラ： USC, ES500W（Gatan）
　エネルギー分散形X線分光器（EDS）： 
　　　JED-2300T(SDD, 日本電子）, 検出面積 60mm2,分析可能元素 B～U
　電子線エネルギー損失分光器（EELS）： Enfina（Gatan）
　TEM/STEMトモグラフシステム（システムインフロンティア）
　冷却2軸ホルダー等
　＊STEMに球面収差補正機能はありません

この装置を使ってできること

装置担当者・連絡先

　R1棟120室　内線：5276
　設置場所　J1棟B02室（5281）
　秋本 由佳（akimoto.y.ac(@)m.titech.ac.jp）
　庄司 大（shoji.d.aa(@)m.titech.ac.jp）