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利用可能装置一覧

 Ｘ線分析

装置種 装置種 装置名 セルフ利用 予約状況
XRD(粉末) 粉末Ｘ線回折計 X’Pert-MPD-OES ○ Calendar
XRD(薄膜) 薄膜材料結晶性解析用Ｘ線回折装置 X’Pert-Pro-MRD ○ Calendar
XRD(微小部) 微小部Ｘ線回折装置 D8 DISCOVER μHR ○ Calendar
XRD(粉末) 卓上Ｘ線回折計 Mini Flex 600 ○ Calendar
XRF エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 NEX DE ○ Calendar

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 元素分析・分光分析

装置種 装置種 装置名 セルフ利用 予約状況
ICP-OES ICP発光分析装置 5100 VDV ICP-OES ○ Calendar
ICP-MS ICP質量分析装置 7700x ○ Calendar
RAMAN レーザー顕微ラマン分光光度計 NRS-4100 ○ Calendar
AUGER 電界放射型電子銃オージェ分光装置 JAMP-9500F ○ Calendar
FE-EPMA 電界放射型電子プローブマイクロアナライザー JXA-8530F ○ Calendar
EPMA 電子プローブマイクロアナライザー JXA-8200 ○ Calendar
TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS 5-100-AD ×
SALD レーザ回折式粒子径分布測定装置 SALD-2300 ○ Calendar

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 電子顕微鏡・試料作製

装置種 装置種 装置名 セルフ利用 予約状況
FE-TEM 電界放射型透過型電子顕微鏡　200kV JEM-2010F ×
FE-TEM 電界放射型球面電子収差補正電子顕微鏡 R005 ×
TEM 透過型電子顕微鏡　120kV H-7650 Zero.A ○ Calendar
FE-SEM 電界放射型走査電子顕微鏡 SU9000 ×
FE-SEM 電界放射型走査電子顕微鏡 JSM-7500F ○ Calendar
SEM 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 ○ Calendar
FIB 集束イオンビーム試料加工装置 FB-2100 ×
FIB-SEM デュアルビーム顕微鏡 Scios ○ Calendar
UMT
Cryo UMT		 Ultramicrotome
ウルトラクライオトーム		 EM UC7
EM FC7		 ○ Calendar
CP クロスセクションポリッシャー SM-09010CP
SM-09020CP		 ○ Calendar
CCP 冷却クロスセクションポリッシャー IB-19520CCP ×
試料作製 イオンスライサー EM-09100IS ご利用については
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装置の状況は統合システムの 登録設備 より
ご確認いただけます
低角度イオンポリッシングシステム Model 691
超音波ディスクカッター Model 601
ディンプルグラインダー Model 656
真空蒸着装置 JEE-420T
マグネトロンスパッタコーター E-1030
カーボンコーター VC-100W

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