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Material Analysis Division (Suzukakedai)

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透過電子顕微鏡（日本電子 TEM,JEM-1400）

 

装置仕様

　加速電圧： 80, 100, 120kV
　電子銃：タングステンフィラメント
　分解能：
　  格子像：0.2nm, 粒子像：0.38 nm
　CCDカメラ： C4742-95-12ER（浜松ホトニクス）







　原理

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する装置です。

 

この装置を使ってできること
　低倍率から高倍率まで高コントラストで観察できる
　主に有機材料や触媒の観察に利用されている

 

装置担当者・連絡先

　R1棟120室　内線：5276
　設置場所　R1-B1棟B7室（6069）
　秋本 由佳（akimoto.y.ac(@)m.titech.ac.jp）


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Email: matanalysis_s(@)ofc.titech.ac.jp
Tel: 5276
 

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