装置一覧｜SEC／光散乱検出器システム(TOSOH HLC-8420GPC／WYATT DAWN-HELEOSⅡ・Optilab T-rEX・Dynapro NanoStar)

SEC／光散乱検出器システム(TOSOH HLC-8420GPC／WYATT DAWN-HELEOSⅡ・Optilab T-rEX・Dynapro NanoStar)

装置仕様

　【SEC】
　検出部：示差屈折率計，紫外吸光検出器
　使用可能溶媒：クロロホルム
　クロロホルム以外の溶媒使用はご遠慮いただいております。
　カラム：Shodex LF-804
　【多角度光散乱検出器 DAWN-HELEOSⅡ】
　レーザー波長：658nm（600～800nm）
　検出器：18角度
　使用可能溶媒：バッチ測定に限りHPLCに対応可能な全溶媒
　【示差屈折率検出器 Optilab T-rEX】
　光源波長：658nm
　【動的光散乱測定器 Dynapro NanoStar】
　レーザー波長：658nm
　測定角度：90度
　最低サンプル使用量：1μL（石英セル使用時）

光散乱検出器システムは、静的光散乱検出器（SLS）と屈折率計（RI）および動的光散乱検出器（DLS）の3機を備えています。これらをSECと接続することによってSEC-MALS測定が可能です。

また、SEC単独測定や、シリンジポンプによりサンプルを導入して、バッチ測定によるSLSとRIおよびDLSの同時測定が可能です。専用のキュベットを使用してDLS単独バッチ測定ができます。

この装置を使ってできること

装置担当者・連絡先

　R1棟119室　内線：5278
　設置場所　R1棟516室
　富田 香苗（tomita.k.af(@)m.titech.ac.jp）

＊SECは化学生命科学研究所（福島研究室）のご厚意により利用させていただいております。