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Material Analysis Division (Suzukakedai)

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X線回折-示差走査熱量同時測定装置(リガク XRD-DSC)

 

装置仕様

 【X線発生部】
 出力: 1.6kW40kV-40mA)
 ターゲット: Cu(封入管式)
 【ゴニオメーター部】
 ゴニオメーター半径: 285mm
 試料台: DSC専用試料台、標準試料台
 測定範囲(DSC同時測定時): 2θ = 4  40°

測定範囲(シンチレーションカウンター使用時): 2θ  1  40°

 測定温度範囲:空気、不活性ガス(N2)
 測定雰囲気: 2θ  1  40°
 試料ホルダー: DSC測定には特殊なパンが必要
 【光学系部】

入射光学系: 選択スリット(Bragg Brentano集中法)、入射スリット、ソーラースリット、発散制限スリット

 受光光学系: 散乱スリット、ソーラースリット、受光スリット
 【検出器】
 半導体検出器D/texUltra2Niフィルター)
 シンチレーションカウンター(固定モノクロメータ)
 【Software
 XRD-DSC Manager
 PDXLICDD-PDF4使用)

 

 原理
 粉末X線回折装置(XRD)と示差走査熱量分析(DSC)が同時に測定ができます。

 

この装置を使ってできること

熱分析を行いながらX線回折測定を同時に行うことで、発熱・吸熱などの熱変化に対応する試料の結晶構造変化を観察することができます。例えば加熱中に相転移が起きた際、吸熱現象ともに結晶構造が変化する様子が同時観察できます。

 

装置担当者・連絡先

 R1棟120室 内線:5276
 設置場所 R1棟521室
 須田 勝美(suda.k.ab(@)m.titech.ac.jp)

*こちらの装置は化学生命科学研究所(宍戸研究室)のご好意により利用させていただいております。


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Email: matanalysis_s(@)ofc.titech.ac.jp
Tel: 5276
 

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