【ご案内】

 

東京科学大学 リサーチインフラ・マネジメント機構 コアファシリティセンター（CFC）ファシリティステーション（FS）部門では ,
表面分析や各種分光分析装置 , NMRやX線回折装置などを中心とした多種の分析装置を管理・運営しております。

　　

【利用方法】

 

当部門設備の利用を希望する方は、こちらのページをご参照ください。

 

【設備一覧】

 

■各種顕微鏡

・電界放出形走査電子顕微鏡 （FE-SEM）
（日立ハイテク, SU8000）

・原子間力顕微鏡（AFM）

（OXFORD, Cypher S）

・原子間力顕微鏡（AFM）
（Bruker , MultiMode 8）

・白色干渉計搭載レーザ顕微鏡 （LSM）
（キーエンス ,VK-X3000）

・レーザーラマン顕微鏡（LRS）
（堀場製作所, XploRA PLUS）

・偏光顕微鏡（POM）
（Olympus , BX50）

 

 

■分光分析装置

・Ｘ線光電子分光装置（XPS）
（アルバックファイ, PHI VersaProbe 3）

・紫外可視分光計（UV-VIS）
（パーキンエルマー, Lambda 365+）

・円二色性分散計（CD）
（Jasco , J-820）

 

 

 

 

 ■核磁気共鳴分光装置

・核磁気共鳴装置（NMR）

　 400MHz（溶液）, 400A/400B
（Bruker BioSpin, AVANCE Ⅲ nanobay × 2 ）

　400MHz（溶液）, 400C
（Bruker BioSpin, AVANCE NEO ）

　 500MHz（溶液）, 500
（Bruker BioSpin, AVANCE Ⅲ HD ）

　 400MHz（固体・溶液）, 400J
（JEOL, ECA400 ）

 

 

 

 

 

■Ｘ線分析装置

・単結晶Ｘ線回折装置（scXRD）
（リガク, XtaLAB Synergy-DW）

・小角・広角X線散乱/回折装置 （SAXS/WAXS)
（リガク, NANO-Viewer, NANOPIX）


   　

 

 

　　■分離分析・熱分析装置

　　・超高速液体クロマトグラフィー（UPLC）
          （日本ウォーターズ, ACUITY UPLC）

　　・示差走査熱量測定装置（DSC）
          （パーキンエルマー, DSC8500）

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

■各種計測機器

・接触角計（DSA）
（Kuss, DSA100）

・触針式段差計（SP）
（Bruker , DektakXT-A）