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【X線発生部】
出力: 1.6kW(40kV-40mA)
ターゲット: Cu(封入管式)
【ゴニオメーター部】
ゴニオメーター半径: 285mm
試料台: 標準試料台
測定範囲: 2θ=3°~150°
試料ホルダー: ガラスホルダー、Si無反射試料ホルダー、ブロック試料ホルダー
【光学系部】
入射光学系: 選択スリット(Bragg Brentano集中法)、入射スリット、ソーラースリット、発散制限スリット
受光光学系: 散乱スリット、ソーラースリット、受光スリット
【検出器】
シンチレーションカウンター(固定モノクロメータ)
【Software】
PDXL(ICDD-PDF4使用)
X線回折装置は試料にX線を照射し、その時おこる回折現象を利用して物質の結晶構造を決定していく装置です。
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データベースと比較して、試料を構成する化合物の種類や結晶相の種類などの定性分析や半定量分析
回折データからは、格子定数、結晶子サイズ、結晶化度など
Rietveld法を使用すれば、原子位置、熱振動パラメータ、サイト占有率などの精密構造解析
粉末だけではなくペレット、焼結体など、様々な形状のサンプルの測定も可能
R1棟120室 内線:5276
設置場所 R1棟521室
須田 勝美(suda.k.ce43)
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