分析部門（すずかけ台）｜装置一覧

有機元素分析装置

・CHN同時測定装置 (ジェイサイエンス JM10) ・O測定装置 (Elementar Vario micro cube) ・異種元素 (ハロゲン,S) 同時測定装置 (ヤナコ HSU-20,サーモ ICS-1100) ・ウルトラミクロ天びん ・ミクロ天びん

無機元素分析装置

質量分析装置

・ESI-TOF-MS (Bruker製 micrOTOFⅡ)
・MALDI-TOF-MS (Bruker製 UltrafreXtreme)
・Double-focusing MS <GC付属>

構造解析装置

・全自動多目的Ｘ線回折装置(リガク 薄膜 SmartLab)
・試料水平型多目的X線回折装置 (リガク Ultima Ⅳ)
・X線回折-示差走査熱量同時測定装置 (リガク XRD-DSC)

電子顕微鏡

・電界放出型透過電子顕微鏡 (日本電子 FE-TEM,JEM-2100F)
・透過電子顕微鏡 (日本電子 TEM,JEM-1400)
・複合ビーム加工観察装置 (日本電子 FIB-SEM,JIB-4500)
・電界放出型走査電子顕微鏡 (日立ハイテク FE-SEM,S-5500)
・電界放出型走査電子顕微鏡 (日本電子 FE-SEM,JSM-IT800)
・走査電子顕微鏡 (日本電子 SEM,JSM-6610LA)
・走査電子顕微鏡 (日本電子 JSM-IT100)
・ウルトラミクロトーム (ライカ UC6/FC6)
・電子顕微鏡前処理装置群

熱分析装置

・示差熱-熱重量同時測定装置 (島津製作所 TG-DTA,DTG-60)
・示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム (リガク ThermoMass Photo)

その他分析装置

・SEC／光散乱検出器システム <SEC・MALS・RI・DLS>
・時間分解吸収分光解析システム (浜松ホトニクス TRASAS)【故障のため利用停止】
・分光エリプソメーター (日本分光 ELC-300)