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-CHN同時測定装置 (ジェイサイエンス JM10) -O測定装置 (Elementar Vario micro cube) -異種元素 (ハロゲン,S) 同時測定装置 (ヤナコ HSU-20,サーモ ICS-1100) ・ウルトラミクロ天びん ・ミクロ天びん |
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-ESI-TOF-MS (Bruker製 micrOTOFⅡ)
-MALDI-TOF-MS (Bruker製 UltrafreXtreme)
-Double-focusing MS <GC付属>
-全自動多目的X線回折装置(リガク 薄膜 SmartLab)
-試料水平型多目的X線回折装置 (リガク Ultima Ⅳ)
-X線回折-示差走査熱量同時測定装置 (リガク XRD-DSC)
-電界放出型透過電子顕微鏡 (日本電子 FE-TEM,JEM-2100F)
-透過電子顕微鏡 (日本電子 TEM,JEM-1400)
-複合ビーム加工観察装置 (日本電子 FIB-SEM,JIB-4500)
-電界放出型走査電子顕微鏡 (日立ハイテク FE-SEM,S-5500)
-電界放出型走査電子顕微鏡 (日本電子 FE-SEM,JSM-IT800)
-走査電子顕微鏡 (日本電子 SEM,JSM-6610LA)
-走査電子顕微鏡 (日本電子 JSM-IT100)
-ウルトラミクロトーム (ライカ UC6/FC6)
-電子顕微鏡前処理装置群
-示差熱-熱重量同時測定装置 (島津製作所 TG-DTA,DTG-60)
-示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム (リガク ThermoMass Photo)
-SEC/光散乱検出器システム <SEC・MALS・RI・DLS>
・時間分解吸収分光解析システム (浜松ホトニクス TRASAS)【故障のため利用停止】
-分光エリプソメーター (日本分光 ELC-300)
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