■電子顕微鏡関連
　電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM, JEM-2100F (日本電子)
　電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM, S-5500 (日立ハイテク)
　電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM, JSM-IT800 (日本電子)
　走査電子顕微鏡 SEM, JSM-6610LA (日本電子)
　走査電子顕微鏡 SEM, JSM-IT100 (日本電子)
　集束イオンビーム走査電子顕微鏡 FIB-SEM, JIB-4500 (日本電子)
　精密イオンポリシング Model.691 (Gatan)
　ディンプルグラインダー Model.656 (Gatan）
　ディスクグラインダー Model.623 (Gatan)
　精密切断 IsoMet Low speed saw (ビューラー)
　イオンコーター IB-3 (エイコー)
　カーボンコーター CADE-E (メイワフォーシス)
　真空蒸着 JEE-420 (日本電子)
　ウルトラミクロトーム UC6/FC6 (ライカ)

■X線関連
　薄膜Ｘ線回折装置 SmartLab (リガク)
　試料水平型多目的Ｘ線回折装置 Ultima IV (リガク)
　Ｘ線回折-示差走査熱量同時測定装置 XRD-DSC (リガク)
　エネルギー分散型蛍光X線分析装置 S2-RANGER (Bruker)

■有機元素分析
　CHN同時分析装置 MICRO CORDER JM10，JM11 (ジェイサイエンス)
　異種元素 (ハロゲン，S) 同時測定装置 HSU-20 (ヤナコ) + ICS-1100 (サーモ)
　全自動元素 (O) 分析装置 Vario micro cube (Elementar)　

■ICP分析装置
　ICP発光分光分析装置 ICPS-8100 (島津製作所)
　ICP質量分析装置 ELAN-DRC-e (パーキンエルマージャパン)

■質量分析装置
　ESI-TOF-MS micrOTOFⅡ(Bruker Daltonics)
　二重収束型質量分析装置 JMS-700 (日本電子)
　MALDI-TOF-MS UltrafleXtreme (Bruker Daltonics)
　飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS (ION-TOF GmbH)

■熱分析関連
　示差熱-熱重量同時測定装置 TG-DTA (DTG-60 島津製作所)
　示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム ThermoMass Photo (リガク)

■その他
　分光エリプソメーター ELC-300 (日本分光)

【料金表】
　分析部門（大岡山）
　分析部門（横浜）

【お問い合わせ】
　学外からご利用いただく場合は以下を参照ください。
　CFC受託外部利用のご案内