■磁気共鳴装置関連
　核磁気共鳴装置 500MHzNMR (Bruker)
　核磁気共鳴装置 400MHzNMR (Bruker) (A),(B)
　核磁気共鳴装置 400MHzNMR (Bruker) (C)
　核磁気共鳴装置 400MHzNMR (JEOL)
　電子スピン共鳴装置 ESR (日本電子)

■電子顕微鏡関連
　電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM, JEM-2100F (日本電子)
　透過電子顕微鏡 TEM, JEM-1400 (日本電子)
　電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM, S-5500 (日立ハイテク)
　走査電子顕微鏡 SEM, JSM-6610LA (日本電子)
　走査電子顕微鏡 JSM-IT100 (日本電子)
　複合ビーム加工観察装置(FIB/SEM) JIB-4500 (日本電子)
　精密イオンポリシング Model.691 (Gatan)
　ディンプルグラインダー Model.656 (Gatan）
　ディスクグラインダー Model.623 (Gatan)
　精密切断 IsoMet Low speed saw (ビューラー)
　イオンコーター IB-3 (エイコー)
　カーボンコーター CADE-E (メイワフォーシス)
　真空蒸着 JEE-420 (日本電子)
　ウルトラミクロトーム UC6/FC6 (ライカ)

■X線関連
　薄膜Ｘ線回折装置 SmartLab (リガク)
　試料水平型多目的Ｘ線回折装置 Ultima IV (リガク)
　Ｘ線回折-示差走査熱量同時測定装置 XRD-DSC (リガク)
　小角･広角X線散乱/回折装置 (ナノスケールＸ線構造評価装置) NANO-Viewer (リガク)
　小角･広角X線散乱/回折装置 (ナノスケールＸ線構造評価装置) NANOPIX (リガク)
　単結晶X線回折装置 XtaLaB Synergy-DW (リガク)
　エネルギー分散型蛍光X線分析装置 S2-RANGER (Bruker)

■有機元素分析
　CHN同時分析装置 MICRO CORDER JM10，JM11 (ジェイサイエンス)
　異種元素 (ハロゲン，S) 同時測定装置 HSU-20 (ヤナコ) + ICS-1100 (サーモ)
　全自動元素 (O) 分析装置 Vario micro cube (Elementar)　

■ICP分析装置
　ICP発光分光分析装置 ICPS-8100 (島津製作所)
　ICP質量分析装置 ELAN-DRC-e (パーキンエルマージャパン)

■質量分析装置
　ESI-TOF-MS micrOTOFⅡ(Bruker Daltonics)
　二重収束型質量分析装置 JMS-700 (日本電子)
　MALDI-TOF-MS UltrafleXtreme (Bruker Daltonics)

■熱分析関連
　示差熱-熱重量同時測定装置 TG-DTA (DTG-60 島津製作所)
　示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム ThermoMass Photo (リガク)
　示差走査熱量測定装置 DSC8500 (パーキンエルマー)

■走査型プローブ顕微鏡
　原子間力顕微鏡 AFM (Oxford instruments)
　原子間力顕微鏡 MultiMode 8 (Bruker)

■その他
　SEC-光散乱検出器システム (東ソー・昭光サイエンス)
　分光エリプソメーター ELC-300 (日本分光)
　時間分解吸収分光解析システム TRASAS (浜松ホトニクス)
　超高速液体クロマトグラフィー UPLC (Waters)
　触針式プロファイリングシステム DektakXT-A (Bruker)
　接触角計 DSA100 (KRÜSS)
　偏光顕微鏡 BX50 (オリンパス)

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